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一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法
1
作者
邓斌
谷京朝
《实用测试技术》
1999年第3期27-29,共3页
提出了一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法。通过此算法可以得到组合逻辑电路中任意可测故障的测试及最小完全检测集。
关键词
D算法
检测D立方
最小完全检测仪
组织逻辑电路
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法
1
作者
邓斌
谷京朝
机构
空军雷达学院装备研究所
出处
《实用测试技术》
1999年第3期27-29,共3页
文摘
提出了一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法。通过此算法可以得到组合逻辑电路中任意可测故障的测试及最小完全检测集。
关键词
D算法
检测D立方
最小完全检测仪
组织逻辑电路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法
邓斌
谷京朝
《实用测试技术》
1999
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