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高效率集成电路测试芯片设计方法
被引量：
2
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作者
胡龙跃
史峥
+1 位作者
刘得金
邵康鹏
《计算机工程与应用》
CSCD
2013年第11期54-57,共4页
对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。
关键词
超大规模集成电路
测试芯片
开尔文结构
工艺开发包
组件描述格式
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职称材料
题名
高效率集成电路测试芯片设计方法
被引量：
2
1
作者
胡龙跃
史峥
刘得金
邵康鹏
机构
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
2013年第11期54-57,共4页
基金
国家自然科学基金(No.61204111)
文摘
对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。
关键词
超大规模集成电路
测试芯片
开尔文结构
工艺开发包
组件描述格式
Keywords
Very Large Scale Integrated circuits （VLSI）
test chip
Kelvin structure
Process Design Kit （PDK）
Component Description Format（CDF）
分类号
TP311.1 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高效率集成电路测试芯片设计方法
胡龙跃
史峥
刘得金
邵康鹏
《计算机工程与应用》
CSCD
2013
2
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