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纳米颗粒光子相关测定中基线方法对测量结果的影响 被引量:3
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作者 刘桂强 杨冠玲 +3 位作者 岳成凤 何振江 周述苍 喻雷寿 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第2期370-374,共5页
从光场自相关函数(Autocorrelation Function,ACF)与光强ACF、衰减率分布函数的关系,推导了基线值对有效直径、分散度的影响.分析了决定基线值取值的两种基线方法,指出基线方法不同,基线值也会不同.对三种纳米颗粒样品的相关实验也证明... 从光场自相关函数(Autocorrelation Function,ACF)与光强ACF、衰减率分布函数的关系,推导了基线值对有效直径、分散度的影响.分析了决定基线值取值的两种基线方法,指出基线方法不同,基线值也会不同.对三种纳米颗粒样品的相关实验也证明基线值越大,颗粒的有效直径、分散度越小.分析了自动斜率法的测量结果较稳定的原因. 展开更多
关键词 光子相关光谱 纳米颗粒测量 基线方法 有效直径 分散度 基线值
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用动态光散射时间相干度法测量纳米颗粒粒径 被引量:8
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作者 杨晖 郑刚 张仁杰 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第7期1546-1551,共6页
针对传统动态光散射法测量纳米颗粒粒径算法复杂、速度慢、成本高等问题,提出了一种通过改变动态散射光信号时间相干度来测量纳米颗粒粒径的方法,并对其所采用的算法和测量系统进行研究。首先,介绍了动态光散射测量法的基本原理,并引出... 针对传统动态光散射法测量纳米颗粒粒径算法复杂、速度慢、成本高等问题,提出了一种通过改变动态散射光信号时间相干度来测量纳米颗粒粒径的方法,并对其所采用的算法和测量系统进行研究。首先,介绍了动态光散射测量法的基本原理,并引出系统相干度的概念(包括时间相干因子和空间相干因子)。接着,从光电探测器的统计特性出发,通过对光子计数方差的分析得到散射光强波动的方差。然后,建立光强波动的方差与时间相干度的方程,并由该方程得到动态光散射信号的衰减线宽。最后,根据Stokes-Einstein公式计算出纳米颗粒的粒径。对粒径为30,50,100 nm,溶液透光率为96%的乳胶球标准颗粒溶液进行了实验,结果表明:本文提出的测量法其测量均值误差和重复性误差的平均值分别为1.84%和1.76%,满足均值误差和重复性误差小于2%的国标要求。 展开更多
关键词 纳米颗粒粒径测量 动态光散射 时间相干
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纳米级颗粒系对激光的多次散射特性 被引量:5
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作者 王海华 孙贤明 +1 位作者 申晋 刘伟 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2011年第8期1495-1498,共4页
激光在具有一定浓度的离散随机介质中传输时,将会经历多次散射。为了研究纳米级颗粒系对激光的多次散射特性,建立了一种考虑颗粒多次散射的累加模型。利用此模型研究了纳米级颗粒系对激光的多次散射特性,得到了反射和透射光强随着散射... 激光在具有一定浓度的离散随机介质中传输时,将会经历多次散射。为了研究纳米级颗粒系对激光的多次散射特性,建立了一种考虑颗粒多次散射的累加模型。利用此模型研究了纳米级颗粒系对激光的多次散射特性,得到了反射和透射光强随着散射角以及光学厚度的变化关系。粒子的单次散射相函数采用瑞利相函数,并与根据Mie计算的相函数进行了比较。结果表明,反射光强随着光学厚度的增大而增大,漫透射光随着光学厚度的增大先增大后减少,且反射函数和透射函数对于同一光学厚度的颗粒层,具有相似的特性。该方法可用于纳米颗粒的多次散射计算。 展开更多
关键词 纳米颗粒测量 多次散射 散射函数 相函数
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动态光散射颗粒测量中相关函数最优截断点的确定 被引量:4
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作者 齐甜甜 刘伟 +4 位作者 THOMAS J C 贾宏燕 魏芹芹 王雅静 申晋 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第3期357-366,共10页
从动态光散射信号中反演纳米颗粒粒度分布,结果准确性和重复性受测量的自相关函数数据点影响,数据点长度不同会导致不同的反演结果。为了解决该问题,提出了一种根据拟合自相关函数的均方根误差来截断自相函数的方法,该方法通过设置拟合... 从动态光散射信号中反演纳米颗粒粒度分布,结果准确性和重复性受测量的自相关函数数据点影响,数据点长度不同会导致不同的反演结果。为了解决该问题,提出了一种根据拟合自相关函数的均方根误差来截断自相函数的方法,该方法通过设置拟合误差阈值来自适应地选择最佳自相关函数数据点数。实验结果表明,使用均方根误差阈值方法获得的颗粒粒度分布比其他方法获得的结果具有更高的准确性和更好的重复性。 展开更多
关键词 动态光散射 光子相关光谱 最佳数据点 自相关函数 均方根误差 颗粒粒度分布 纳米颗粒测量
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纳米颗粒的粒径测定 被引量:2
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作者 吴新民 范茂松 潘兮 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2004年第z1期69-77,共9页
介绍了纳米颗粒粒径大小的常见测量方法和技术,这些方法包括电镜法、X-射线衍射法、激光粒度分析法、沉降法、X-射线小角散射等,指出了它们的应用范围并对这些方法的优缺点进行了讨论.
关键词 纳米颗粒 粒径大小 测量方法 测量技术
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PCS中基线值对累积法反演结果的影响分析 被引量:5
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作者 刘桂强 杨冠玲 +2 位作者 周述苍 曾思明 韩鹏 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2008年第3期88-92,共5页
针对光强自相关函数与归一化光场自相关函数之间的关系,指出基线值的不同会影响到颗粒粒径和分散度的测量结果。分析了纳米颗粒尺寸和分散度测定的光子相关光谱技术中的累积算法。利用光子相关光谱技术对三种不同材料共五种尺寸的颗粒... 针对光强自相关函数与归一化光场自相关函数之间的关系,指出基线值的不同会影响到颗粒粒径和分散度的测量结果。分析了纳米颗粒尺寸和分散度测定的光子相关光谱技术中的累积算法。利用光子相关光谱技术对三种不同材料共五种尺寸的颗粒进行了测试分析,结果显示:测量基线方法不同,对应的基线值会不同,利用累积法反演得到的颗粒粒径和分散度的结果也会不同。从理论上分析了反演结果不同的原因。本文确认了自动斜率法是较恰当的确定基线的方法。 展开更多
关键词 光子相关光谱法 纳米颗粒测量 累积法 有效直径 分散度
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