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纳米级性能测量中原位透射电子显微镜的现状和展望
1
作者
王中林
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2000年第1期1-13,共13页
纳米材料的研究无论是在基础科学还是在应用技术上都面临着许多新的挑战。纳米材料的性能极大地取决于它们的尺寸和形状。测量大面积或大量的纳米材料所得的性能是整个样品的平均值，因此，单个纳米颗粒或单根纳米管的不寻常的特性就被...
纳米材料的研究无论是在基础科学还是在应用技术上都面临着许多新的挑战。纳米材料的性能极大地取决于它们的尺寸和形状。测量大面积或大量的纳米材料所得的性能是整个样品的平均值，因此，单个纳米颗粒或单根纳米管的不寻常的特性就被掩盖了。测量由原子结构所决定的单一纳米结构的性能是纳米科学的一个基本方向。对现有的测试技术和试验方法来说，表征单一纳米颗粒／纳米管／纳米纤维的性能是一难题。首先。
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关键词
纳米
材料
纳米级性能测量
原位透射电子显微镜
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职称材料
题名
纳米级性能测量中原位透射电子显微镜的现状和展望
1
作者
王中林
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2000年第1期1-13,共13页
文摘
纳米材料的研究无论是在基础科学还是在应用技术上都面临着许多新的挑战。纳米材料的性能极大地取决于它们的尺寸和形状。测量大面积或大量的纳米材料所得的性能是整个样品的平均值，因此，单个纳米颗粒或单根纳米管的不寻常的特性就被掩盖了。测量由原子结构所决定的单一纳米结构的性能是纳米科学的一个基本方向。对现有的测试技术和试验方法来说，表征单一纳米颗粒／纳米管／纳米纤维的性能是一难题。首先。
关键词
纳米
材料
纳米级性能测量
原位透射电子显微镜
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
纳米级性能测量中原位透射电子显微镜的现状和展望
王中林
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2000
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