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冻融预处理提高糯米淀粉纳米小体的制备效率 被引量:1
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作者 汤振兴 陶湘林 +4 位作者 魏颖娟 阳永建 谢军 向台双 唐汉军 《中国粮油学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第10期63-68,共6页
以糯米淀粉为实验材料,探索冻融预处理对低温酸水解纳米小体的产出率及其形态、粒度和结晶结构等的影响。结果显示,冻融预处理淀粉在4℃下硫酸水解6 d后的纳米小体得率达到20.9%,是未预处理的3倍;粒径峰值为26.9 nm,分布范围23.0~35.0 ... 以糯米淀粉为实验材料,探索冻融预处理对低温酸水解纳米小体的产出率及其形态、粒度和结晶结构等的影响。结果显示,冻融预处理淀粉在4℃下硫酸水解6 d后的纳米小体得率达到20.9%,是未预处理的3倍;粒径峰值为26.9 nm,分布范围23.0~35.0 nm;粉末X射线衍射分析维持了糯米淀粉的A型结晶结构;预处理淀粉酸水解损伤比无预处理小;0.1%纳米小体水乳液在室温下稳定90 d以上。结合冻融预处理低温酸水解法可能是一条获取保有原结晶的纳米小体的制备技术途径。 展开更多
关键词 糯稻淀粉 冻融预处理 低温水解 纳米小体 物理特性
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高磁性与无磁性趋磁细菌的获得及磁小体释放技术研究 被引量:1
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作者 张宇红 肖天 《海洋科学》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期1-4,10,共5页
利用特殊的磁富集传代法获得高磁性和无磁性AMB-1菌株。通过透射电子显微镜(TEM)观察和Cmag值测定,对这两种菌株进行了验证。优选了条件,使高磁性AMB-1菌株在培养192 h后出现自溶现象,磁小体从细胞内释放出来。
关键词 AMB-1 纳米小体 小体释放
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Effect of grain boundary on electric performance of ZnO nanowire transistor with wrap-around gate
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作者 周郁明 何怡刚 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS 2011年第4期1009-1012,共4页
A novel grain boundary(GB) model characterized with different angles and positions in the nanowire was set up.By means of device simulator,the effects of grain boundary angle and location on the electrical performance... A novel grain boundary(GB) model characterized with different angles and positions in the nanowire was set up.By means of device simulator,the effects of grain boundary angle and location on the electrical performance of ZnO nanowire FET(Nanowire Field-Effect Transistor) with a wrap-around gate configuration,were explored.With the increase of the grain boundary angle,the electrical performance degrades gradually.When a grain boundary with a smaller angle,such as 5° GB,is located close to the source or drain electrode,the grain boundary is partially depleted by an electric field peak,which leads to the decrease of electron concentration and the degradation of transistor characteristics.When the 90° GB is located at the center of the nanowire,the action of the electric field is balanced out,so the electrical performance of transistor is better than that of the 90° GB located at the other positions. 展开更多
关键词 ZnO nanowire field-effect transistor grain boundary electrical performance
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