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题名边界扫描测试生成算法优化问题
被引量：7
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作者
陈圣俭
牛春平
任哲平
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机构
装甲兵工程学院
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2006年第4期73-77,共5页
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文摘
紧凑性和完备性是评价边界扫描测试生成算法的两大指标,紧凑性指标越小、完备性指标越大则表明算法越优。算法研究目的是减小紧凑性指标,增加完备性指标,而它们是一对矛盾的集合体,单纯优化任何一个都不能使测试算法最优。论文提出了一种通过综合权衡两大指标来优化算法方法:1·确定对完备性指标的要求,寻求紧凑性指标最小的测试向量集。2·在确定紧凑性指标的前提下,寻求完备性指标最佳的测试向量集。以此为依据对现有算法进行了优劣排序,并提出了两种更优的新算法,最后对这种优化问题未来的发展方向进行了预测。
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关键词
边界扫描
优化
算法
紧凑性指标
完备性指标
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Keywords
boundary scan, optimization, algorithm, compact index, complete index.
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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