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精密电子设备的减振设计与试验研究 被引量:4
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作者 车毕琴 郭中泽 +1 位作者 赖盛景 李火生 《机械设计》 CSCD 北大核心 2015年第9期101-104,共4页
某重大装备搭载的精密电子设备在考核性振动试验中出现信号异常,经检查和分析认为,该故障是由于过大的加速度响应导致精密电子设备损伤所致。研究分析了设备在200 Hz后响应过大的特点,采用体积小且承载能力强的减振器方案,改进后的产品... 某重大装备搭载的精密电子设备在考核性振动试验中出现信号异常,经检查和分析认为,该故障是由于过大的加速度响应导致精密电子设备损伤所致。研究分析了设备在200 Hz后响应过大的特点,采用体积小且承载能力强的减振器方案,改进后的产品通过了振动试验验证。试验结果表明,响应大幅度降低,精密电子设备工作正常。该设计为类似设计提供了参考,具有较强的工程应用价值。 展开更多
关键词 精密电子设备 减振器 减振设计 试验研究
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