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非独立模式算法下粒径分布反演及分类的研究
被引量：
13
1
作者
孙晓刚
唐红
原桂彬
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期1111-1114,共4页
在光全散射法颗粒粒径测量中,提出一种非独立模式算法下粒径分布反演及分类的方法。对被测颗粒系分别按照不同的粒径分布函数同时进行反演,并依据反演误差大小判断被测颗粒系符合哪种分布函数。仿真实验结果表明,在非独立模式下,完全可...
在光全散射法颗粒粒径测量中,提出一种非独立模式算法下粒径分布反演及分类的方法。对被测颗粒系分别按照不同的粒径分布函数同时进行反演,并依据反演误差大小判断被测颗粒系符合哪种分布函数。仿真实验结果表明,在非独立模式下,完全可以利用已知的不同分布函数的反演误差作为分类依据,从而更准确地确定被测颗粒系的粒径分布。采用的遗传反演算法能够在3个可见光波长下得到较准确的粒径分布,反演结果稳定可靠,最大限度地减少了多个波长的使用,从而对光源有更大的选择余地。对透射消光测量结果加入5%随机噪声时,单峰分布颗粒系的反演误差小于5%,多峰分布颗粒系的反演误差小于10%。整个算法运行时间小于2 s。该方法具有原理简单,计算速度快等优点,能够满足颗粒粒径在线测量的要求。
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关键词
粒径
测量
光全散射法
非独立模式
粒径分布函数分类
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职称材料
题名
非独立模式算法下粒径分布反演及分类的研究
被引量：
13
1
作者
孙晓刚
唐红
原桂彬
机构
哈尔滨工业大学自动检测与过程控制系统研究所
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期1111-1114,共4页
基金
国家自然科学基金项目(50336010)资助
文摘
在光全散射法颗粒粒径测量中,提出一种非独立模式算法下粒径分布反演及分类的方法。对被测颗粒系分别按照不同的粒径分布函数同时进行反演,并依据反演误差大小判断被测颗粒系符合哪种分布函数。仿真实验结果表明,在非独立模式下,完全可以利用已知的不同分布函数的反演误差作为分类依据,从而更准确地确定被测颗粒系的粒径分布。采用的遗传反演算法能够在3个可见光波长下得到较准确的粒径分布,反演结果稳定可靠,最大限度地减少了多个波长的使用,从而对光源有更大的选择余地。对透射消光测量结果加入5%随机噪声时,单峰分布颗粒系的反演误差小于5%,多峰分布颗粒系的反演误差小于10%。整个算法运行时间小于2 s。该方法具有原理简单,计算速度快等优点,能够满足颗粒粒径在线测量的要求。
关键词
粒径
测量
光全散射法
非独立模式
粒径分布函数分类
Keywords
Particle sizing
Total light scattering Dependent model algorithm Classification of particle size distribution
分类号
TH744 [机械工程—光学工程]
O436 [机械工程—光学工程]
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职称材料
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作者
出处
发文年
被引量
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1
非独立模式算法下粒径分布反演及分类的研究
孙晓刚
唐红
原桂彬
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
13
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