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X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量
被引量：
10
1
作者
乔鹏
葛良全
+2 位作者
张庆贤
谷懿
米争锋
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第11期1295-1299,共5页
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标...
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。
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关键词
X射线荧光光谱分析
粉末压片制样法
化探
样
品
基本参数
法
经验系数
法
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职称材料
题名
X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量
被引量：
10
1
作者
乔鹏
葛良全
张庆贤
谷懿
米争锋
机构
成都理工大学核技术与自动化工程学院
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第11期1295-1299,共5页
基金
西天山航磁异常查证野外X荧光示范课题资助
文摘
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。
关键词
X射线荧光光谱分析
粉末压片制样法
化探
样
品
基本参数
法
经验系数
法
Keywords
X—ray fluorescence spectrometry
Pressed powder pellet
Geochemical exploration samples
Fundamental parameter method
Empirical coefficient method
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量
乔鹏
葛良全
张庆贤
谷懿
米争锋
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011
10
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