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题名粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响
被引量：1
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作者
钟明峰
苏达根
庄严
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机构
华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室
广州新日电子有限公司
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出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期117-119,122,共4页
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基金
广州市重点科技攻关项目(2002Z2-D0011)
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文摘
通过调整 Bi_2O_3、Sb_2O_3、TiO_2、B_2O_3、BaCO_3等少量添加剂的掺量,可在低温880℃下与10%Pd-90%Ag内电极共烧,制得性能优良的多层片式氧化锌压敏电阻器(ZnO MLCV)。主要采用两种不同颗粒细度的 ZnO 粉体来研究粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响。研究发现适当地使用部分超细 ZnO 粉体,改善 ZnO 粉体的颗粒分布,再使用适量的磷酸酯作为分散剂,可以流延制得较致密、平整、均匀的膜片,从而制得瓷体的致密性较高,且非线性系数较高、漏电流较低、峰值电流及能量耐量较高的多层片式压敏电阻器;而 ZnO 粉体颗粒粒径太大及过细,都会影响膜片的质量,进而影响多层片式压敏电阻器的性能。XRD 衍射分析发现 ZnO 粉体颗粒细度的改变对瓷体的物相组成无明显影响。
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关键词
多层片式压敏电阻器
粉体颗粒细度
膜片质量
电性能
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Keywords
multilayer chip varistor
particle distribution
quality of green tape
electric performance
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分类号
TN304
[电子电信—物理电子学]
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