期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
通过TRL校准提取管芯S参数的技术 被引量:5
1
作者 董四华 刘英坤 +1 位作者 冯彬 孙艳玲 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第2期174-177,共4页
介绍了一种基于TRL法的提取管芯S参数的方法。该方法从TRL校准出发,实际测量得到封装器件的S参数;管芯以外的参量(管壳及键和线)用等效电路表示,最后用微波仿真软件模拟得到管芯S参数。此方法在没有精确的测试夹具条件下,仍可以得到较... 介绍了一种基于TRL法的提取管芯S参数的方法。该方法从TRL校准出发,实际测量得到封装器件的S参数;管芯以外的参量(管壳及键和线)用等效电路表示,最后用微波仿真软件模拟得到管芯S参数。此方法在没有精确的测试夹具条件下,仍可以得到较理想的器件和管芯S参数。实验证明该方法简便、实用性强,可推广应用于不宜直接测量管芯S参数的器件。 展开更多
关键词 TRL校准 管芯s参数 仿真
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部