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基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成
被引量:
2
1
作者
韦晓
王艳丽
+5 位作者
梁永锋
叶丰
林均品
陈国良
李卓昕
王宝义
《南京大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第2期143-146,共4页
正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿...
正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿命谱技术对金属间化合物Fe-6.5wt.%Si合金热轧板在不同温度退火后缺陷变化进行研究,发现了正电子平均寿命在673K左右迅速增加,673至1073K温度范围内平均正电子寿命的温度曲线为明显的S形状,1073K以上平均正电子寿命趋于常数,通过分析正电子平均寿命的温度变化曲线,得到了Fe-6.5wt.%Si合金中热空位生成的临界温度值,并计算得到了该合金的空位生成激活焓为HVF=0.54eV.
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关键词
Fe-6.5wt.%Si合金
正电子湮没寿命
空位生成激活焓
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职称材料
题名
基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成
被引量:
2
1
作者
韦晓
王艳丽
梁永锋
叶丰
林均品
陈国良
李卓昕
王宝义
机构
北京科技大学新金属材料国家重点实验室
中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室
出处
《南京大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第2期143-146,共4页
基金
国家自然科学基金(50771018)
国家重点基础研究发展计划项目(2006CB605205-2)
文摘
正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿命谱技术对金属间化合物Fe-6.5wt.%Si合金热轧板在不同温度退火后缺陷变化进行研究,发现了正电子平均寿命在673K左右迅速增加,673至1073K温度范围内平均正电子寿命的温度曲线为明显的S形状,1073K以上平均正电子寿命趋于常数,通过分析正电子平均寿命的温度变化曲线,得到了Fe-6.5wt.%Si合金中热空位生成的临界温度值,并计算得到了该合金的空位生成激活焓为HVF=0.54eV.
关键词
Fe-6.5wt.%Si合金
正电子湮没寿命
空位生成激活焓
Keywords
Fe-6.5wt. % Si alloy, positron annihilation lifetime, vacancy formation enthalpies
分类号
TM275 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成
韦晓
王艳丽
梁永锋
叶丰
林均品
陈国良
李卓昕
王宝义
《南京大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2009
2
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职称材料
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