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VLSI测试中移相伪随机序列的设计
被引量：
1
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作者
刘勇
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期608-611,共4页
为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFS...
为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFSR生成序列的互相关性,利用LFSR与其对偶LFSR间的关系,提出了基于逻辑仿真的移相器的快速设计方法,实验结果验证了该方法的有效性,对VLSI的内测试和外测试皆适用。
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关键词
VLSI测试
移相伪随机序列
线性反馈
移
位寄存器
移
相
器
M
序列
移
位可加性
伪
随机
测试
数字集成电路
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职称材料
题名
VLSI测试中移相伪随机序列的设计
被引量：
1
1
作者
刘勇
机构
成都电子机械高等专科学校计算机工程系
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期608-611,共4页
文摘
为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFSR生成序列的互相关性,利用LFSR与其对偶LFSR间的关系,提出了基于逻辑仿真的移相器的快速设计方法,实验结果验证了该方法的有效性,对VLSI的内测试和外测试皆适用。
关键词
VLSI测试
移相伪随机序列
线性反馈
移
位寄存器
移
相
器
M
序列
移
位可加性
伪
随机
测试
数字集成电路
Keywords
linear feedback shift register
phase shifter
m sequence
shift-and-add property
pseudorandom test
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
VLSI测试中移相伪随机序列的设计
刘勇
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
1
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