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正中隆起内NT能神经元的SP能神经支配的免疫电镜双标研究 被引量:7
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作者 朱长庚 张喜京 +1 位作者 刘汉涛 卢金活 《神经解剖学杂志》 CAS CSCD 北大核心 1991年第1期43-48,共6页
应用包埋前免疫电镜PAP双标技术,对大鼠下丘脑正中隆起内的神经紧张素(neurotensin,NT)和P物质(substance P,SP)的分布进行了超微结构研究。先用DAB法显示SP免疫反应,然后用钼酸-TMB法显示NT免疫反应,再经DAB-氯化钴稳定后作免疫电镜包... 应用包埋前免疫电镜PAP双标技术,对大鼠下丘脑正中隆起内的神经紧张素(neurotensin,NT)和P物质(substance P,SP)的分布进行了超微结构研究。先用DAB法显示SP免疫反应,然后用钼酸-TMB法显示NT免疫反应,再经DAB-氯化钴稳定后作免疫电镜包埋。电镜观察发现:在正中隆起内SP免疫反应呈电子密度高的颗粒状或絮状沉淀,广泛分布于轴突内的小清亮囊泡周围和基质内;NT免疫反应产物则为电子密度高的针状或块状,散在分布于胞体、树突和轴突内。含SP的轴突可接受免疫反应阴性轴突的传入性突触,也可与阴性树突形成传出性轴-树突触;含NT的树突和胞体均可接受阴性轴突的传入性突触。此外,SP阳性轴突末梢还可与NT阳性神经元的树突棘形成对称性轴-棘突触及与NT阳性轴突形成对称性轴-轴突触。实验结果表明:大鼠正中隆起内的NT能神经元接受SP能神经的支配,为下丘脑神经内分泌的突触调控提供了新的超微结构依据。 展开更多
关键词 正中隆起 P物质 神经紧张素
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