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题名磁流变动压复合抛光基本原理及力学特性
被引量：4
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作者
付有志
路家斌
阎秋生
谢殿华
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机构
广东工业大学机电工程学院
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出处
《表面技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第4期55-63,共9页
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基金
广东省基础与应用基础研究基金(2019A1515010720)
NSFC-广东省联合基金(U1801259)
广州市科技计划项目(201904010300)。
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文摘
目的探究磁流变动压复合抛光基本原理及抛光力学特性。方法通过建立磁流变动压复合抛光过程中流体动压数学模型,分析抛光盘面结构化单元对抛光力学特性的影响规律,并优化其结构。搭建磁流变动压复合抛光测力系统,探究工作间隙、抛光盘转速、工件盘转速和凸轮转速对抛光力的影响规律,基于正交试验,优化抛光效果。结果抛光盘面结构化单元的楔形区利于流体动压效应的产生,且流体动压随楔形角和工作间隙的增大而减少,随楔形区宽度的增大而增大。结构化单元较为合理的几何参数为:楔形角3°~5°,工作间隙0.2~1.0 mm,楔形区宽度15~30 mm。法向力Fn随工作间隙的增大而减小,随工件盘转速的增大而增大,随抛光盘和凸轮转速的增大而先增大后减小;剪切力Ft随工作间隙的增大而减小,随工件盘、抛光盘和凸轮转速的增大均呈现先增大后减小的规律。通过正交试验获得优化工艺参数为:抛光盘转速60 r/min,工件盘转速600 r/min,凸轮转速150 r/min。在羰基铁粉(粒径3μm、质量分数35%)、SiC磨料(粒径3μm、质量分数5%)、工作间隙0.4 mm和磁感应强度0.1 T工况下,抛光2 in单晶硅基片4 h后,表面粗糙度Ra由20.11 nm降至2.36 nm,材料去除率为5.1 mg/h,初始大尺度纹理被显著去除。结论磁流变动压复合抛光通过在抛光盘面增设结构化单元,以引入流体动压效应,强化了抛光力学特性,并利用径向往复运动的动态磁场实现柔性抛光头的更新和整形,最终达到了提高抛光效率和质量的目的。
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关键词
磁流变动压复合抛光
抛光力学特性
结构化单元
楔形区
单晶硅基片
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Keywords
magnetorheological hydrodynamic compound polishing
polishing mechanical properties
structured element
wedge region
single-crystal silicon wafer
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分类号
TG356.28
[金属学及工艺—金属压力加工]
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