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MS界面输运特性对碲镉汞光伏器件I-V特性的影响 被引量:2
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作者 胡晓宁 李言谨 方家熊 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期165-168,共4页
根据金属 -碲镉汞接触的基本电流 -电压关系 ,深入讨论了金属 -半导体 (MS)接触界面输运特性对碲镉汞光伏器件 I- V特性的影响 ,并对实际器件的测量数据进行了分析比较 .
关键词 I-V特性 金属-接触 碲镉汞光伏器件 红外焦平面器件 界面 输运特性
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变磁场I-V法对碲镉汞光伏器件少子扩散特性的研究 被引量:1
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作者 贾嘉 陈新禹 +1 位作者 李向阳 龚海梅 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期140-142,共3页
零偏压电阻 面积乘积(R0A)和反向饱和电流密度J0 是决定光电二极管性能的重要参数.提出了一种对碲镉汞(Hg1-xCdxTe)光伏器件的少子扩散特性进行研究的有效方法.利用变磁场下的电流 电压(I V)测试,得到了组分x在 0.5与 0.6之间的器件R0A... 零偏压电阻 面积乘积(R0A)和反向饱和电流密度J0 是决定光电二极管性能的重要参数.提出了一种对碲镉汞(Hg1-xCdxTe)光伏器件的少子扩散特性进行研究的有效方法.利用变磁场下的电流 电压(I V)测试,得到了组分x在 0.5与 0.6之间的器件R0A和J0 随磁场强度B变化的函数关系.由实验结果估算得到了室温工作的短波红外(SWIR)碲镉汞光伏器件的少子扩散长度.其数值与用激光诱导电流(LBIC)方法得到的相一致. 展开更多
关键词 碲镉汞光伏器件 扩散特性 V法 少子扩散长度 电流-电压 电二极管 有效方法 电流密度 诱导 短波红外 函数关系 磁场强度
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离子束诱导转型成结的碲镉汞光伏器件 被引量:5
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作者 贾嘉 《红外》 CAS 2003年第8期1-9,共9页
离子束诱导转型成结技术是一种可以获得高质量p-n结的新型成结方法,它克服了传统碲镉汞(MCT)离子注入成结工艺中钝化层有损伤的弊病,且工艺相对简单,有希望成为碲镉汞红外焦平面器件的新一代成结技术。本文介绍了以环孔工艺和氢化技术... 离子束诱导转型成结技术是一种可以获得高质量p-n结的新型成结方法,它克服了传统碲镉汞(MCT)离子注入成结工艺中钝化层有损伤的弊病,且工艺相对简单,有希望成为碲镉汞红外焦平面器件的新一代成结技术。本文介绍了以环孔工艺和氢化技术为代表的常规离子束刻蚀(Ion Beam Milling)及以H_2/CH_4为代表的反应离子束刻蚀(Reactive Ion Etching)两大类离子束诱导转型(Plasma induced type conversion)成结技术的基本原理、特点及其工艺过程。并以反应离子束刻蚀(RIE)为例,列举了现有报道的典型器件性能。同时还把离子束诱导与离子注入工艺在各方面作了比较。 展开更多
关键词 离子束诱导转型成结 碲镉汞光伏器件 红外探测器 红外焦平面器件 环孔工艺 氢化技术 离子束刻蚀
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γ辐照导致中波碲镉汞光伏器件暗电流退化的机理研究 被引量:2
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作者 王志铭 周东 +6 位作者 郭旗(指导) 李豫东 文林 马林东 张翔 蔡毓龙 刘炳凯 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2019年第9期192-199,共8页
针对红外探测器在空间应用中受到高能粒子辐照后暗电流退化的问题,开展γ射线对中波碲镉汞(HgCdTe)光伏器件暗电流影响的研究。在室温和77 K温度下,利用60Co-γ射线对HgCdTe器件进行辐照试验,辐照试验结束后对低温辐照器件进行77 K低温... 针对红外探测器在空间应用中受到高能粒子辐照后暗电流退化的问题,开展γ射线对中波碲镉汞(HgCdTe)光伏器件暗电流影响的研究。在室温和77 K温度下,利用60Co-γ射线对HgCdTe器件进行辐照试验,辐照试验结束后对低温辐照器件进行77 K低温退火和室温退火。通过比较γ辐照前后和退火后器件的I-V特性、R-V特性和零偏动态电阻R0参数,分析了γ辐照对HgCdTe器件暗电流的影响机制。试验结果表明:在总剂量为7 Mrad(Si)照条件下,器件暗电流未出现明显的退化;在77 K温度辐照条件下,器件暗电流随着总剂量的增加而增加,且暗电流退化幅度与辐照过程中的偏置有关。研究表明暗电流的退化源于γ辐照在器件中造成电离损伤,导致器件HgCdTe化层中的界面态和空穴陷阱电荷密度增加。 展开更多
关键词 (HgCdTe)器件 红外探测器 辐射效应 γ射线 暗电流
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