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基于确定性测试集的数字集成电路随机测试
被引量：
3
1
作者
谢永乐
陈光
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期576-578,共3页
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高...
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性 。
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关键词
确定性测试集
加权随机
测试
自动
测试
生成器
多权
集
数字
集
成电路
故障诊断
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职称材料
题名
基于确定性测试集的数字集成电路随机测试
被引量：
3
1
作者
谢永乐
陈光
机构
电子科技大学CAT研究室
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期576-578,共3页
文摘
提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化 ,该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比 ,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性 。
关键词
确定性测试集
加权随机
测试
自动
测试
生成器
多权
集
数字
集
成电路
故障诊断
Keywords
Weighted random test Automatic test pattern generator (ATPG) Multiple weighted set Fault diagosis of digital integrated circuits
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于确定性测试集的数字集成电路随机测试
谢永乐
陈光
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
3
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