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生成确定性测试图形的内建自测试方法
被引量：
5
1
作者
雷绍充
邵志标
梁峰
《西安交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第8期880-884,共5页
为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综...
为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述.由于结合了确定性测试和伪随机测试的优点,该方法具有低功耗、长度短、故障覆盖率高、测试图形自动生成等特色,特别适于CMOS组合逻辑电路的测试.基于ISCAS85Benchmark的实验结果表明,所设计的BIST电路在硬件开销、速度、测试功耗等方面均优于传统的伪随机测试电路,测试时间显著减少.
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关键词
低功耗
确定性测试图形
内建自
测试
状态机
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职称材料
题名
生成确定性测试图形的内建自测试方法
被引量：
5
1
作者
雷绍充
邵志标
梁峰
机构
西安交通大学电子与信息工程学院
出处
《西安交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第8期880-884,共5页
文摘
为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述.由于结合了确定性测试和伪随机测试的优点,该方法具有低功耗、长度短、故障覆盖率高、测试图形自动生成等特色,特别适于CMOS组合逻辑电路的测试.基于ISCAS85Benchmark的实验结果表明,所设计的BIST电路在硬件开销、速度、测试功耗等方面均优于传统的伪随机测试电路,测试时间显著减少.
关键词
低功耗
确定性测试图形
内建自
测试
状态机
Keywords
low power consumption
deterministic test pattern
built-in self-test
finite state machine
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
生成确定性测试图形的内建自测试方法
雷绍充
邵志标
梁峰
《西安交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
5
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