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带有TiN阻挡层的新型Au金属化系统在硅微波器件中的应用
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作者 郭伟玲 李志国 +1 位作者 程尧海 孙英华 《北京工业大学学报》 CAS CSCD 1996年第4期37-40,共4页
将带有TiN、W和Mo阻挡层的Au金属化系统用在高频大功率三极管上,对其EB结进行了高温大电流应力和高温存储试验。结果表明采用TiN作阻挡层的管子的寿命比用W作阻挡层的管子提高了两倍多:用TiN作阻挡层的管子和用W作... 将带有TiN、W和Mo阻挡层的Au金属化系统用在高频大功率三极管上,对其EB结进行了高温大电流应力和高温存储试验。结果表明采用TiN作阻挡层的管子的寿命比用W作阻挡层的管子提高了两倍多:用TiN作阻挡层的管子和用W作阻挡层的管子具有较好的耐高温特性,与Mo作阻挡层的管子相比它们承受的温度更高。 展开更多
关键词 金属化 氮化钛 硅微波器件 微波半导体器件
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对硅微波功率器件金属化系统的改进
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作者 郭伟玲 李志国 +2 位作者 吉元 程尧海 孙英华 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第6期37-39,共3页
将带有TiN、Mo和W阻挡层的Au金属化系统用在高频功率管上,对其EB结进行了高温大电流应力试验。结果表明采用TiN作阻挡层的器件寿命比用W作阻挡层的器件提高了2.2倍,比用Mo作阻挡层的器件提高了1.3倍。SEM和... 将带有TiN、Mo和W阻挡层的Au金属化系统用在高频功率管上,对其EB结进行了高温大电流应力试验。结果表明采用TiN作阻挡层的器件寿命比用W作阻挡层的器件提高了2.2倍,比用Mo作阻挡层的器件提高了1.3倍。SEM和TEM观察表明,用Ti/TiN/Pt/Au作金属化的产品的失效是由金属化的横向电迁徙导致的开路引起的,x射线分析结果表明Au没有穿过TiN进入Si衬底。 展开更多
关键词 阻挡层 金属化系统 硅微波器件
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