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气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法研究
1
作者
李红
易洪
+1 位作者
张敬畅
易未
《计量学报》
CSCD
北大核心
2011年第5期474-477,共4页
介绍了气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法。采用碱溶法溶解单晶硅样品，经阳离子交换反应、烘干焙烧制得二氧化硅，再用氢氟酸溶解二氧化硅得到氟硅酸溶液，进一步滴加氯化钡溶液生成氟硅酸钡沉淀，将氟硅酸钡热分...
介绍了气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法。采用碱溶法溶解单晶硅样品，经阳离子交换反应、烘干焙烧制得二氧化硅，再用氢氟酸溶解二氧化硅得到氟硅酸溶液，进一步滴加氯化钡溶液生成氟硅酸钡沉淀，将氟硅酸钡热分解最终制得四氟化硅气体。通过优化制备工艺条件，获得了高收率的四氟化硅气体，采用气体同位素比值质谱仪测定四氟化硅气体硅同位素丰度比。测量结果表明，该方法制备出的四氟化硅气体用于硅同位素丰度的测量，具有再现性好，回收率达到了97％以上，能满足准确测量硅摩尔质量的要求。
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关键词
计量学
硅同位素丰度比
气体
同位素
比值质谱仪
单晶
硅
摩尔质量
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职称材料
题名
气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法研究
1
作者
李红
易洪
张敬畅
易未
机构
北京化工大学理学院
中国计量科学研究院
香港科技大学
出处
《计量学报》
CSCD
北大核心
2011年第5期474-477,共4页
基金
国家科技部科技支撑计划项目（2006BAF06B06）
文摘
介绍了气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法。采用碱溶法溶解单晶硅样品，经阳离子交换反应、烘干焙烧制得二氧化硅，再用氢氟酸溶解二氧化硅得到氟硅酸溶液，进一步滴加氯化钡溶液生成氟硅酸钡沉淀，将氟硅酸钡热分解最终制得四氟化硅气体。通过优化制备工艺条件，获得了高收率的四氟化硅气体，采用气体同位素比值质谱仪测定四氟化硅气体硅同位素丰度比。测量结果表明，该方法制备出的四氟化硅气体用于硅同位素丰度的测量，具有再现性好，回收率达到了97％以上，能满足准确测量硅摩尔质量的要求。
关键词
计量学
硅同位素丰度比
气体
同位素
比值质谱仪
单晶
硅
摩尔质量
Keywords
Metrology
Silicon isotopic abundances ratios
Gas isotope ratios mass spectrometer
Single crystal silicon
Molar mass
分类号
TB99 [机械工程—测试计量技术及仪器]
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作者
出处
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1
气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法研究
李红
易洪
张敬畅
易未
《计量学报》
CSCD
北大核心
2011
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