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Si(111)表面亚稳态重构的STM研究
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作者 侯士敏 陶成钢 +4 位作者 申自勇 郭等柱 赵兴钰 刘惟敏 薛增泉 《真空科学与技术》 EI CSCD 北大核心 2002年第4期243-246,共4页
利用扫描隧道显微镜 (STM) ,研究了Si(111)表面的 2× 2、c2× 4、9× 9和 11× 11等各种亚稳态结构。与已经发表的研究结果相比 :2× 2和c2× 4重构区域规则且面积更大 ,原子分辨的图像清晰稳定 ;在不同亚稳... 利用扫描隧道显微镜 (STM) ,研究了Si(111)表面的 2× 2、c2× 4、9× 9和 11× 11等各种亚稳态结构。与已经发表的研究结果相比 :2× 2和c2× 4重构区域规则且面积更大 ,原子分辨的图像清晰稳定 ;在不同亚稳态之间的畴界处 ,发现存在2种不同的环形结构。从原子密度和能量两方面 。 展开更多
关键词 Si(111)表面 亚稳态重构 扫描隧道显微镜 畴界 (111)表面 半导体材料
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