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基于DDS的频率特性测试仪 被引量:4
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作者 操长茂 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第12期44-46,共3页
介绍了基于DDS设计的频率特性测试仪,整个系统以单片机为控制核心,实现了对被测网络频率特性的测量,用液晶显示器LCD显示幅频特性和相频特性曲线,同时还可打印频响曲线。
关键词 幅频特性 相频特性:单片机 DDS 频率特性测试仪
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