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InSb薄膜磁阻效应的厚度依赖性 被引量:1
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作者 张豫徽 宋志勇 +3 位作者 陈平平 林铁 田丰 康亭亭 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第3期311-315,共5页
在12~300K的温度范围内研究了InSb薄膜(利用MBE生长)的磁阻效应随厚度的变化关系.实验发现厚的InSb薄膜只能产生半经典(∝B2)磁阻效应.而减小薄膜厚度,在薄的InSb薄膜中会更容易出现弱反局域化效应,从而造成在低温下(<35K)出现了一... 在12~300K的温度范围内研究了InSb薄膜(利用MBE生长)的磁阻效应随厚度的变化关系.实验发现厚的InSb薄膜只能产生半经典(∝B2)磁阻效应.而减小薄膜厚度,在薄的InSb薄膜中会更容易出现弱反局域化效应,从而造成在低温下(<35K)出现了一个异常的随温度增加而迁移率降低的趋势.我们发现该弱反局域化效应可用HLN模型拟合,证明了它可能来源于二维(2-D)体系,比如InSb的界面态. 展开更多
关键词 锑化铟 磁阻效应 弱反局域化效应 界面/表面态
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