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Kelvin四线连接电阻测试技术及应用
被引量：
21
1
作者
赵英伟
庞克俭
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第11期43-45,50,共4页
介绍了开尔文(Kelvin)四线连接方式测试电阻的原理,针对复杂电阻网络提出电阻隔离测 试技术。分析了采用全开尔文更精确测量极小电阻的方法,介绍了在特殊情况下使用分离开尔文连接测试 电阻的方法和用途。
关键词
开尔文
电阻隔离测试
分离开尔文连接
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职称材料
题名
Kelvin四线连接电阻测试技术及应用
被引量：
21
1
作者
赵英伟
庞克俭
机构
中国电子科技集团公司电子第十三所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第11期43-45,50,共4页
文摘
介绍了开尔文(Kelvin)四线连接方式测试电阻的原理,针对复杂电阻网络提出电阻隔离测 试技术。分析了采用全开尔文更精确测量极小电阻的方法,介绍了在特殊情况下使用分离开尔文连接测试 电阻的方法和用途。
关键词
开尔文
电阻隔离测试
分离开尔文连接
Keywords
Kelvin
guarded resistance measurement
split Kelvin connection
分类号
TN304.07 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Kelvin四线连接电阻测试技术及应用
赵英伟
庞克俭
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005
21
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