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基于I_(DDT)的数字电路故障诊断研究
被引量：
2
1
作者
余长庚
赖丽萍
《现代电子技术》
2011年第13期179-182,共4页
数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障。开路故障不会立即引起电路的功能性故障,但它会引起延时性故障,并且不能用电压的方法来探测。针对数字电路中的电阻性开路故障,采用了数字电...
数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障。开路故障不会立即引起电路的功能性故障,但它会引起延时性故障,并且不能用电压的方法来探测。针对数字电路中的电阻性开路故障,采用了数字电路的瞬态电流IDDT测试和利用小波技术的定位方法。
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关键词
电阻性开路故障
瞬态电流
IDDT
小波分析
数字电路
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职称材料
题名
基于I_(DDT)的数字电路故障诊断研究
被引量：
2
1
作者
余长庚
赖丽萍
机构
贺州学院
出处
《现代电子技术》
2011年第13期179-182,共4页
文摘
数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障。开路故障不会立即引起电路的功能性故障,但它会引起延时性故障,并且不能用电压的方法来探测。针对数字电路中的电阻性开路故障,采用了数字电路的瞬态电流IDDT测试和利用小波技术的定位方法。
关键词
电阻性开路故障
瞬态电流
IDDT
小波分析
数字电路
Keywords
resistive-open defect
transient current （IDDT）
wavelet analysis
digital circuit
分类号
TN79-34 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
基于I_(DDT)的数字电路故障诊断研究
余长庚
赖丽萍
《现代电子技术》
2011
2
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