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基于时间门方法的随机耦合模型在复杂腔体电磁预测中的应用 被引量:2
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作者 郝建红 潘慧东 范杰清 《电波科学学报》 CSCD 北大核心 2021年第1期61-67,共7页
利用随机耦合模型(random coupling model,RCM)预测复杂腔体电磁效应时,通常要通过测量辐射阻抗来实现,但实验过程中满足混沌腔体以及耦合通道的腔体加工、实验过程模拟等条件要求较高,且实验步骤繁琐.为了克服上述问题,文中采用时间门... 利用随机耦合模型(random coupling model,RCM)预测复杂腔体电磁效应时,通常要通过测量辐射阻抗来实现,但实验过程中满足混沌腔体以及耦合通道的腔体加工、实验过程模拟等条件要求较高,且实验步骤繁琐.为了克服上述问题,文中采用时间门方法(time gating method,TGM),通过对散射参数进行频域-时域-频域转换,结合门控函数,计算腔体辐射散射参数,并分析了门控时间对计算结果的影响.不同频段内TGM计算结果与实验结果的统计特性,验证了该方法的适用性.TGM与RCM相结合用于复杂金属屏蔽腔体电磁脉冲耦合效应的研究,可以简化原有RCM的繁琐过程. 展开更多
关键词 随机耦合模型(RCM) 电磁脉冲耦合效应 辐射阻抗 时间门方法(TGM) 散射参数
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