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托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为
被引量：
1
1
作者
卢洪伟
胡立群
+3 位作者
林士耀
周瑞杰
罗家融
钟方川
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第8期2116-2120,共5页
分析了电流爬升阶段等离子体密度和电流爬升率对逃逸电子行为的影响,研究了低杂波辅助电流驱动条件下的逃逸电子辐射行为。结果发现:电流爬升阶段等离子体密度的大小严重影响了电流爬升阶段甚至电流平顶阶段逃逸电子的行为,较低的等离...
分析了电流爬升阶段等离子体密度和电流爬升率对逃逸电子行为的影响,研究了低杂波辅助电流驱动条件下的逃逸电子辐射行为。结果发现:电流爬升阶段等离子体密度的大小严重影响了电流爬升阶段甚至电流平顶阶段逃逸电子的行为,较低的等离子体密度将会导致放电过程中比较强的逃逸电子辐射;低能逃逸电子辐射随着电流爬升率的增大而增强;低杂波辅助电流爬升可以有效地节约装置的伏秒数;降低放电过程中的环电压,可有效抑制逃逸电子的产生。
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关键词
托卡马克
电流爬升
逃逸电子
阈值速度
密度
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职称材料
题名
托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为
被引量：
1
1
作者
卢洪伟
胡立群
林士耀
周瑞杰
罗家融
钟方川
机构
东华大学应用物理系
中国科学院等离子体物理研究所
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第8期2116-2120,共5页
基金
东华大学基金项目(109100044030)
中央高校基本科研基金项目(11D10908)
+2 种基金
国家自然科学基金项目(10775030)
科技部ITER计划项目(2009GB107006
2010GB108004)
文摘
分析了电流爬升阶段等离子体密度和电流爬升率对逃逸电子行为的影响,研究了低杂波辅助电流驱动条件下的逃逸电子辐射行为。结果发现:电流爬升阶段等离子体密度的大小严重影响了电流爬升阶段甚至电流平顶阶段逃逸电子的行为,较低的等离子体密度将会导致放电过程中比较强的逃逸电子辐射;低能逃逸电子辐射随着电流爬升率的增大而增强;低杂波辅助电流爬升可以有效地节约装置的伏秒数;降低放电过程中的环电压,可有效抑制逃逸电子的产生。
关键词
托卡马克
电流爬升
逃逸电子
阈值速度
密度
Keywords
Tokamak
current ramp-up
runaway electron
critical velocity
plasma density
分类号
O536 [理学—等离子体物理]
O532 [理学—等离子体物理]
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作者
出处
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被引量
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1
托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为
卢洪伟
胡立群
林士耀
周瑞杰
罗家融
钟方川
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011
1
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