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薄膜电容器损耗的频率特性
被引量：
4
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作者
曹桂华
《电子质量》
2009年第8期37-39,共3页
高频损耗是薄膜电容器的一个重要的指标,它直接影响整机的可靠性。文章介绍了电容器损耗的概念、损耗的组成、外界因素对损耗的影响;运用试验数据说明薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加,两者之间不是线性关系;通过对薄膜电容...
高频损耗是薄膜电容器的一个重要的指标,它直接影响整机的可靠性。文章介绍了电容器损耗的概念、损耗的组成、外界因素对损耗的影响;运用试验数据说明薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加,两者之间不是线性关系;通过对薄膜电容器生产过程的分析,指出了高频损耗产生的原因以及应采取的措施,并运用0.618法和正交试验法确定了重要工序的主要参数。
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关键词
电容器
电容器的损耗
介质
损耗
金属
损耗
主要技术指标
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职称材料
题名
薄膜电容器损耗的频率特性
被引量：
4
1
作者
曹桂华
机构
迪亚电容器有限公司
出处
《电子质量》
2009年第8期37-39,共3页
文摘
高频损耗是薄膜电容器的一个重要的指标,它直接影响整机的可靠性。文章介绍了电容器损耗的概念、损耗的组成、外界因素对损耗的影响;运用试验数据说明薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加,两者之间不是线性关系;通过对薄膜电容器生产过程的分析,指出了高频损耗产生的原因以及应采取的措施,并运用0.618法和正交试验法确定了重要工序的主要参数。
关键词
电容器
电容器的损耗
介质
损耗
金属
损耗
主要技术指标
Keywords
Capacitors
Capacitor Loss
Dielectric loss
Metal loss
The main technical index
分类号
TM533 [电气工程—电器]
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作者
出处
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1
薄膜电容器损耗的频率特性
曹桂华
《电子质量》
2009
4
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