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未知点阵电子衍射谱的标定
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作者 赵长安 《兵器材料科学与工程》 CAS CSCD 北大核心 1992年第4期39-43,共5页
采用Niggli约化胞法标定未知晶体结构的电子衍射谱,对约化条件及约化步骤进行了归纳设计,总结出约化矩阵的推导方法及电子衍射谱标定矩阵的计算方法。方法简便,步骤严谨,已编制微机程序并实践应用。
关键词 未知点阵 电子衍射谱 约化胞
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电子衍射谱分析的一种有效方法—电子衍射图表法
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作者 潘明祥 华明建 +1 位作者 李春志 刘军 《金属科学与工艺》 CSCD 北大核心 1989年第1期42-52,共11页
本文介绍了以矩阵分析法为基础,在APPLEI微型计算机上实现的分析电子衍射谱的多功能通用计算机程序及运用该程序计算出的电子衍射图表来分析几种常见电子衍射谱的方法。
关键词 电子衍射谱 微机 应用 电子衍射
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一个计算反射电子衍射谱的新方法
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作者 高占 纪荣华 《电子显微学报》 CAS 1982年第2期50-56,共7页
本文提出一个计算晶面间距的新方法。按照这个方法,用衍射环间距取代了传统方法中的半径。从而大大降低了园心定位误差。本文方法具有如下优点:(1)不必测定园心位置。(2)以相同的置信概率进行统计分析表明,本方法的测量准确度比传统方... 本文提出一个计算晶面间距的新方法。按照这个方法,用衍射环间距取代了传统方法中的半径。从而大大降低了园心定位误差。本文方法具有如下优点:(1)不必测定园心位置。(2)以相同的置信概率进行统计分析表明,本方法的测量准确度比传统方法约高一个量级。(3)本方法的测量和计算同传统方法一样简单。 展开更多
关键词 传统方法 所得 环间距 电子衍射谱 统计检验 衍射环半径
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天然黄铁矿结构的电子衍射表征 被引量:1
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作者 宋丹 黄菲 +2 位作者 刘佳 高尚 高文元 《材料与冶金学报》 CAS 北大核心 2013年第3期231-236,共6页
采用云南东川天然立方体黄铁矿,用透射电子显微镜(TEM)选区电子衍射对黄铁矿结构进行表征.沿黄铁矿的200,202和111等为轴倾转得到一系列电子衍射谱:沿200倾转得到[001][012][013]晶带电子衍射谱;沿202倾转得到[111][101][323][212][313]... 采用云南东川天然立方体黄铁矿,用透射电子显微镜(TEM)选区电子衍射对黄铁矿结构进行表征.沿黄铁矿的200,202和111等为轴倾转得到一系列电子衍射谱:沿200倾转得到[001][012][013]晶带电子衍射谱;沿202倾转得到[111][101][323][212][313][232]晶带电子衍射谱;沿111倾转得到[112][123]晶带电子衍射谱,共获得11个晶带的电子衍射谱表征黄铁矿的结构.并根据晶体学数据,用计算机模拟与之对应的11个衍射谱,将模拟的衍射谱与实验得到的一系列衍射谱进行对照比较,分析黄铁矿衍射谱的特点及消光规律,并给出一系列反应黄铁矿结构的电子衍射图谱,为该矿物的结构研究奠定基础. 展开更多
关键词 黄铁矿 电子衍射谱 消光规律 结构分析
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FePt薄膜氧化的电子显微学表征 被引量:1
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作者 胡学让 吴培文 袁俊 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第2期85-90,共6页
电子束蒸发沉淀法制备的Fe Pt多层膜在N2气氛下经550℃退火可获得有序L10 FePt相。截面样品形貌像表明退火600s的样品形成了双层结构,样品选区电子衍射谱、X射线能谱及电子能量损失谱中O K边吸收峰形状分析表明该样品的上层结构主要为... 电子束蒸发沉淀法制备的Fe Pt多层膜在N2气氛下经550℃退火可获得有序L10 FePt相。截面样品形貌像表明退火600s的样品形成了双层结构,样品选区电子衍射谱、X射线能谱及电子能量损失谱中O K边吸收峰形状分析表明该样品的上层结构主要为尖晶石相Fe3O4的氧化产物,下层结构主要为有序L10 FePt相。由于Fe的选择性氧化造成FePt相的成分偏离设计要求,从而对FePt超薄膜的磁学性能产生很大影响。 展开更多
关键词 电子显微学 薄膜氧化 电子能量损失 表征 电子束蒸发 电子衍射谱 X射线能 选择性氧化 双层结构 氧化产物 尖晶石相 设计要求 磁学性能 多层膜 沉淀法 样品 分析表 吸收峰 FEP 超薄膜 t相 有序 退火 N2 截面
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电子显微学在我国金属材料研究中的应用
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作者 赵坚 《电子显微学报》 CAS 1982年第2期74-77,共4页
本文总结了电子显微学在我国金属材料研究中所取得的工作成绩,并展望了中国电镜学会的工作,提出了建议和希望。
关键词 电镜 电子显微镜 电子衍射谱 电子显微术 电子显微技术 电子显微学 金属材料
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液相法电沉积类金刚石薄膜的结构分析 被引量:1
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作者 何洋洋 张贵锋 +3 位作者 李国卿 侯晓多 李春燕 姜辛 《电子显微学报》 CAS CSCD 2007年第5期411-414,共4页
采用脉冲直流电源,以甲醇有机溶液作为碳源,在低温(60℃~70℃)常压条件下,在(100)硅片上沉积了类金刚石薄膜。用扫描电镜、透射电镜、电子衍射谱和拉曼光谱表征了薄膜的表面形貌和结构。结果表明:类金刚石薄膜致密均匀,表面粗糙度小;Ra... 采用脉冲直流电源,以甲醇有机溶液作为碳源,在低温(60℃~70℃)常压条件下,在(100)硅片上沉积了类金刚石薄膜。用扫描电镜、透射电镜、电子衍射谱和拉曼光谱表征了薄膜的表面形貌和结构。结果表明:类金刚石薄膜致密均匀,表面粗糙度小;Raman光谱在1332cm-1附近有一强峰,与金刚石的特征峰接近;电子衍射谱的分析结果表明薄膜中含有多晶金刚石和石墨碳相。 展开更多
关键词 类金刚石薄膜 电化学沉积 扫描电镜 电子衍射谱
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未知点阵晶体测定系统的实现与应用 被引量:4
8
作者 梁柱 韩明 刘文西 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期76-80,共5页
随着计算机技术的快速发展 ,越来越多的仪器采用计算机进行辅助分析。但是由于存在一定的困难 ,电子衍射谱的数据测量仍然处于手工操作阶段 ,测量过程十分繁琐 ,所得数据误差较大 ,不能适应在线分析的要求。本文针对这一问题 ,重点研究... 随着计算机技术的快速发展 ,越来越多的仪器采用计算机进行辅助分析。但是由于存在一定的困难 ,电子衍射谱的数据测量仍然处于手工操作阶段 ,测量过程十分繁琐 ,所得数据误差较大 ,不能适应在线分析的要求。本文针对这一问题 ,重点研究计算机自动识别电子衍射谱的算法 ,合理运用图像处理技术对衍射谱图像进行处理 ,旨在没有人为干预的情况下 ,实现自动、快速、精确地识别与测量电子衍射谱 ,为后续的分析软件提供电子衍射数据 ,并完成衍射谱的标定实验证明 ,由计算机自动识别和测量的数据符合所需的精度要求 ,完全能够在实际工作中应用。本软件使用VisualC ++编制 。 展开更多
关键词 电子衍射谱 计算机识别 图像处理 未知点阵晶体 测定
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激波冲击(Fe_(0.99)Mo_(0.01))_(78)Si_9B_(13)非晶合金晶化第二相的TEM研究
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作者 刘贤 杨宇 +1 位作者 田兴时 何俊 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期62-65,共4页
用激波冲击 (Fe0 99M0 0 1 ) 78Si9B1 3非晶软磁合金 ,非晶相发生相变 ,形成纳米尺寸的α (Si,Mo)主晶相和第二相 ,电子衍射详细研究了第二相。用Fe2 B等的粉末衍射数据卡数据来标定第二相的单晶电子衍射谱偏离大。通过对实验数据的... 用激波冲击 (Fe0 99M0 0 1 ) 78Si9B1 3非晶软磁合金 ,非晶相发生相变 ,形成纳米尺寸的α (Si,Mo)主晶相和第二相 ,电子衍射详细研究了第二相。用Fe2 B等的粉末衍射数据卡数据来标定第二相的单晶电子衍射谱偏离大。通过对实验数据的大量计算 :第二相被确认为Si固溶于Fe2 B的 (Fe,Si) 2 B ,其点阵常数与Fe2 B有一定差别 ,为a =0 4 895 0nm ,c=0 880 2 3nm ,Si的溶质成分估计为 10 7%。 展开更多
关键词 (Fe0.99Mo0.01)78Si9B13 铁钼硼合金 点阵常数 电子衍射谱 激波冲击 晶相 晶化第二相
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M_7C_3晶体缺陷的HREM观察 被引量:4
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作者 吴逸贵 李炎 +1 位作者 陈全德 陈云贵 《电子显微学报》 CAS CSCD 1990年第3期176-176,共1页
一、M_7C_3中孪晶电子衍射谱及HREM观察照片1是M_7C_3孪晶的高分辩像,存在有许多孪晶畴区,孪晶面为(121)。照片2是照片1的电子衍射。据文献[1]孪晶矩阵一般式及文献[2]给出正交晶系M_7C_3的晶格常数,分析孪晶面为(121)的孪晶矩阵应为:
关键词 MC晶体 缺陷 HREM 孪晶 电子衍射谱
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高阶劳厄点标定的简单方法──测角法 被引量:3
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作者 王茂林 赵长安 《兵器材料科学与工程》 CSCD 北大核心 1995年第5期69-72,共4页
介绍了一种标定高阶劳厄点的新方法。通过测量与计算高阶劳厄点倒易矢量与两相邻的零层倒易矢量的夹角,确定高阶劳厄点的指数。这种标定方法仅需测量两个夹角和用一个夹角公式进行计算,十分简便可行。
关键词 高阶劳厄点 电子衍射谱 测角法 标定 晶体结构
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Dissolution mechanism and solubility of hemimorphite in NH_3-(NH_4)_2SO_4-H_2O system at 298.15 K
12
作者 李琴香 陈启元 胡慧萍 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS 2014年第3期884-890,共7页
The dissolution mechanism of hemimorphite in NH3-(NH4)2SO4-H2O system at 298.15 K was investigated by X-ray powder diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Fourier transform infrared spectroscopy ... The dissolution mechanism of hemimorphite in NH3-(NH4)2SO4-H2O system at 298.15 K was investigated by X-ray powder diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis. The results show that hemimorphite is soluble in NH3-(NH4)2SO4-H2O system and its residue exists in the form of an amorphous SiO2 layer on the hemimorphite surface. The XPS data also indicate that the Si 2p3/2 and O ls spectra of the hemimorphite are broadened and shift to higher binding energies and their binding energies are closer to silica with an increase of total ammonia and time. Solubility of hemimorphite in NH3-(NH4)2SO4-H2O system was measured by means of isothermal solution method at 298.15 K based on the study of the dissolution mechanism of hemimorphite. The results show that the solubility of zinc in solution increases firstly and then decreases with the increase of cr(NH3) (total ammonia concentration) at different NH3/NH4^+ ratios. The solubility of silicon in solution decreases from 0.0334 mol/kg in ct(NH3)-4.1245 mol/kg NH3-(NH4)2SO4-H2O solution to 0.0046 mol/kg in cT(NH3)=7.6035 mol/kg NH3-(NH4)2SO4-H2O solution. 展开更多
关键词 HEMIMORPHITE ammoniacal solution dissolution mechanism SOLUBILITY
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