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电子背散射衍射(EBSD)技术在地壳构造变形研究中的应用 被引量:14
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作者 黄学猛 张进江 许志琴 《地质学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第6期1130-1145,共16页
电子背散射衍射(EBSD)技术是岩组学研究的一项革命性新技术。该技术可以对传统的岩石薄片进行分析,实用性高,观测精度达到亚微米级别。配合扫描电子显微镜、阴极发光、波谱、能谱分析设备,EBSD技术可以对透明和非透明的任何对称性晶体... 电子背散射衍射(EBSD)技术是岩组学研究的一项革命性新技术。该技术可以对传统的岩石薄片进行分析,实用性高,观测精度达到亚微米级别。配合扫描电子显微镜、阴极发光、波谱、能谱分析设备,EBSD技术可以对透明和非透明的任何对称性晶体进行取向测量,快速获取晶体显微结构、微区成分与晶体学参数,可以对晶体开展形貌观察、晶体优选方向(CPO)、取向差分析、物相鉴定、应变测量、晶界分析、变形机制、位错滑移系、晶内变形、温压条件研究。结合聚焦离子束(FIB)技术,可以获取矿物的三维结构图像。对地壳的主要矿物进行组构分析,结合野外矿物变形特征与试验岩石学研究成果,可以开展地壳构造运动学、动力学的研究。本文介绍岩组学的研究历史,以及EBSD技术在地壳常见矿物石英、钾长石、斜长石、角闪石以及假熔岩构造变形研究中的最新进展与典型实例,并对EBSD研究结果中一些潜在的不确定性因素进行了讨论。 展开更多
关键词 电子背散射衍射(ebsd) 岩组学 构造运动学 动力学 变形机制
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岩石电子背散射衍射(EBSD)组构分析及应用 被引量:74
2
作者 刘俊来 曹淑云 +1 位作者 邹运鑫 宋志杰 《地质通报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第10期1638-1645,共8页
电子背散射衍射(EBSD)技术是现代构造地质学与显微构造分析领域一项崭新的技术,它与现代高分辨率扫描电子显微镜和能谱分析设备结合,可以对块状样品中微米或纳米级尺度的颗粒进行晶体结构分析,从而使微观结构、微区成分与结晶学优选数... 电子背散射衍射(EBSD)技术是现代构造地质学与显微构造分析领域一项崭新的技术,它与现代高分辨率扫描电子显微镜和能谱分析设备结合,可以对块状样品中微米或纳米级尺度的颗粒进行晶体结构分析,从而使微观结构、微区成分与结晶学优选数据结合起来,能够更精细地对比研究矿物和岩石显微构造,为岩石显微构造分析开辟了一个全新的领域。分析了EBSD技术的基本原理、系统构成、样品制备和工作程序。介绍了石英组构测量,极细粒物质(微角砾岩)的组构特点,二轴晶矿物(角闪石)的组构、变形机制和金属硫化物组构分析的应用实例,对于应用EBSD系统开展研究存在的一些问题进行了讨论。 展开更多
关键词 电子背散射衍射(ebsd) 显微构造 组构 造岩矿物 硫化物
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2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会征文通知
3
《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期91-92,共2页
继2008年、2009年连续两届EBSD会议之后,2011年全国应用背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会将于2011年7月上旬在北京召开。会议由中国电子显微镜学会EBSD专业委员会及北京工业大学固体微结构与性能研究所联合举办。
关键词 背散射电子衍射 学术交流 征文通知 技术 北京工业大学 ebsd 专业委员会 电子显微镜
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2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会征文通知
4
《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第6期581-582,共2页
继2008年、2009年连续两届EBSD会议之后,2011年全国应用背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会将于2011年7月上旬在北京召开。会议由中国电子显微镜学会EBSD专业委员会及北京工业大学固体微结构与性能研究所联合举办。
关键词 背散射电子衍射 学术交流 征文通知 技术 北京工业大学 ebsd 专业委员会 电子显微镜
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2008年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会征文通知
5
《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第5期424-424,共1页
关键词 学术交流 科学交流 背散射电子衍射 研讨会 中国电子显微镜学会 ebsd
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2009年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会及征文通知(第一轮)
6
《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期404-404,共1页
关键词 背散射电子衍射 ebsd技术 学术交流 征文通知 专业委员会 科技工作者 学术委员会 学术论文
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2009年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流研讨会及征文通知(第一轮)
7
《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期192-192,共1页
关键词 背散射电子衍射 ebsd技术 学术交流 征文通知 专业委员会 科技工作者 学术委员会 学术论文
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电子背散射衍射技术及其应用 被引量:17
8
作者 张寿禄 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期703-704,共2页
关键词 电子背散射衍射技术 ebsd 扫描电子显微镜 显微组织 晶体学分析 SEM
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应用扫描电镜中背散射电子成像技术研究钢中复合夹杂物 被引量:4
9
作者 张寿禄 李伟 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期457-457,共1页
关键词 复合夹杂物 扫描电子显微镜 背散射电子成像技术 金相分析
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材料变形过程中的原位电子背散射衍射(in-situ EBSD)分析 被引量:10
10
作者 靳丽 Mishara R K Kubic R 《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第6期439-442,共4页
本文介绍一套既具备电子背散射衍射(EBSD),又具备应力加载功能的分析测试方法,简称原位EBSD。采用该系统能实现对拉伸、压缩、弯曲及剪切变形过程中材料的微观组织演变进行原位跟踪观察;可以分析材料在变形过程中的组织演变过程,获得组... 本文介绍一套既具备电子背散射衍射(EBSD),又具备应力加载功能的分析测试方法,简称原位EBSD。采用该系统能实现对拉伸、压缩、弯曲及剪切变形过程中材料的微观组织演变进行原位跟踪观察;可以分析材料在变形过程中的组织演变过程,获得组织演变的连续性信息,从而对研究材料变形过程中的机理及物理本质提供有力的实验依据。本文还以原位压缩过程中纯镁的微观组织演变的测试与分析为例,说明原位EBSD系统使用方法。 展开更多
关键词 原位电子背散射衍射(in-situ ebsd) 微观组织演变 塑性变形 纯镁
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电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析
11
作者 李勇 高薇 +1 位作者 苏会和 李守新 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第6期562-563,共2页
关键词 电子背散射衍射技术 铜单晶 循环形变 位错组态 梯状位错结构 迷宫位错结构 宏观形变带 位错墙结构
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电子背散射衍射技术在材料科学研究中的应用 被引量:3
12
作者 何立晖 聂小武 +3 位作者 张洪 邓健平 何燕 孔克文 《现代制造工程》 CSCD 北大核心 2010年第7期10-12,38,共4页
介绍电子背散射衍射(EBSD)的工作原理、衍射花样包含的物理意义,通过典型实例,系统论述EBSD技术在材料研究领域中的应用,主要包括测定晶体取向、织构、取向关系、应变分布、晶格常数、物相鉴定及晶界性质研究等方面。
关键词 电子背散射衍射 材料科学 分析技术
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电子背散射衍射技术在X80管线钢环焊缝塑性应变表征中的应用 被引量:2
13
作者 刘木强 孙超 +5 位作者 尤景泽 柳旺 王慧 王朝阳 于镇洋 宋明 《压力容器》 北大核心 2023年第9期7-15,22,共10页
X80油气管道服役过程中的轴向应力(或应变)是导致管道失效的重要因素。轴向应力作用下,弱匹配环焊接头引入的过量塑性变形将导致焊缝处强度破坏或脆化失效。为了探究服役后的X80高钢级管道及环焊缝的微小轴向塑性变形,研究尝试使用电子... X80油气管道服役过程中的轴向应力(或应变)是导致管道失效的重要因素。轴向应力作用下,弱匹配环焊接头引入的过量塑性变形将导致焊缝处强度破坏或脆化失效。为了探究服役后的X80高钢级管道及环焊缝的微小轴向塑性变形,研究尝试使用电子背散射衍射技术(EBSD)对管线钢进行残余塑性应变进行表征。结果表明:以X80管线钢单轴拉伸和四点弯曲样品为试验对象,筛选并验证了X80母材的核平均取向差(KAM)与微小应变呈线性正相关;利用EBSD分析沿壁厚方向的环焊缝细晶区KAM分布情况,发现靠近盖面焊和打底焊处的KAM与塑性应变有较好的对应关系;在对脆性失效环焊缝细晶区的分析中发现,沿壁厚方向的KAM显著高于同位置的未服役环焊缝,该结果证实了X80环焊缝在脆性断裂前曾经历了一定量的塑性变形,有研究表明这种塑性变形的累积对环焊缝的韧性将造成不利影响。 展开更多
关键词 X80管线钢 环焊缝 塑性变形 电子背散射衍射技术 核平均取向差
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基于电子背散射衍射技术的纤维状方解石脉体晶体分析 被引量:2
14
作者 赵兰全 李志鹏 +6 位作者 邹开真 马晓楠 刘振阳 尹鹤 雷利庆 禹宝军 马存飞 《石油实验地质》 CAS CSCD 北大核心 2022年第2期357-364,共8页
方解石脉体广泛发育在富有机质页岩中,其岩石学特征和成因机制是研究的热点。电子背散射衍射技术能够原位表征矿物晶体的微观结构和晶体取向信息,而被广泛应用于材料科学领域,并在地质学领域得到了迅速发展。为了明确四川盆地龙马溪组... 方解石脉体广泛发育在富有机质页岩中,其岩石学特征和成因机制是研究的热点。电子背散射衍射技术能够原位表征矿物晶体的微观结构和晶体取向信息,而被广泛应用于材料科学领域,并在地质学领域得到了迅速发展。为了明确四川盆地龙马溪组富有机质页岩中纤维状方解石脉体的晶体特征,电子背散射衍射技术被用于表征方解石脉体的矿物学特征和结晶学特征。研究结果表明,方解石脉体的矿物组成为方解石和石英,其中方解石是主体,其晶粒的平均大小为372μm;而石英主要分布在方解石纹层界面处。方解石脉体中的方解石晶体属于三方晶系或菱方晶系,相应的晶胞类型为三方晶胞或菱方晶胞,其晶格常数为a_(0)=b_(0)=4.99A,c_(0)=17.061A,α=β=90°,γ=120°。方解石脉体在纵剖面上具有一定的择优取向,原因是方解石晶粒内部发育聚片双晶,其中相邻的双晶条纹具有不同的晶体取向,晶体取向差为75°;而相间的双晶条纹具有相同的晶体取向,且同一双晶条纹的晶体取向相同。方解石晶粒内部发育完全解理,常成组出现且与双晶条纹呈锐夹角斜交,两者均是在方解石结晶过程中受到构造压扭作用产生的,其中最大主应力方向与双晶条纹平行。 展开更多
关键词 电子背散射衍射技术 结晶学特征 矿物学特征 方解石脉体 页岩 四川盆地
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电子背散射衍射技术在方解石脉体特征研究中的应用 被引量:1
15
作者 何月明 董春梅 马存飞 《地质论评》 CAS CSCD 北大核心 2020年第S01期187-188,共2页
电子背散射衍射(EBSD)技术是显微结构、构造领域一项崭新的技术,它与扫描电子显微镜设备和分析系统相结合,可以对固体样品中微米或纳米级尺度的颗粒进行晶体结构分析。该技术在目前已经发展到成熟阶段,在材料学、金相领域中广泛应用。... 电子背散射衍射(EBSD)技术是显微结构、构造领域一项崭新的技术,它与扫描电子显微镜设备和分析系统相结合,可以对固体样品中微米或纳米级尺度的颗粒进行晶体结构分析。该技术在目前已经发展到成熟阶段,在材料学、金相领域中广泛应用。但是在对于透明矿物的分析,目前处于发展初期,有广阔的开发空间,岩石显微构造分析也因此步入了一个全新的时代。 展开更多
关键词 电子背散射衍射技术 晶体取向 纤维状方解石脉 生长机制
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GaAs-GaN键合界面热应力的电子背散射衍射研究 被引量:4
16
作者 田彦宝 吉元 +5 位作者 赵跃 吴迪 郭霞 沈光地 索红莉 周美玲 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期1091-1096,1116,共7页
采用扫描电镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)技术,观察和分析了GaAs和GaN晶片热压键合的界面热应力和晶片键合质量。利用EBSD测量了GaAs-GaN键合界面的菊池花样质量、晶格转动、晶格错配和位错密度等应力敏感参数。结果表明,晶片键合质量... 采用扫描电镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)技术,观察和分析了GaAs和GaN晶片热压键合的界面热应力和晶片键合质量。利用EBSD测量了GaAs-GaN键合界面的菊池花样质量、晶格转动、晶格错配和位错密度等应力敏感参数。结果表明,晶片键合质量良好,键合界面中心区域的热应力小于边缘区域的热应力。GaN层和GaAs层中的应力影响范围,在中心区域分别约为100 nm和300 nm,在边缘区域分别约为100 nm和500 nm。EBSD显示的应力分布图与模拟应力场相似。模拟和计算表明,最大剥离应力和剪切应力分布在键合界面的边缘。剥离应力是导致晶片解键合的主要原因。 展开更多
关键词 GaAs-GaN 热应力 晶片键合 电子背散射衍射(ebsd)
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低温回火马氏体取向关系的电子背散射衍射研究 被引量:5
17
作者 王申存 李志成 +2 位作者 易丹青 曹志强 张鸿 《中南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第9期2620-2627,共8页
为了研究马氏体的相变特征,利用电子背散射衍射(EBSD)技术并结合金相显微镜和显微硬度计分析低温回火的20MnCr5渗碳齿轮钢的性能和组织。根据马氏体相变理论中的K-S和N-W取向关系分别计算得到马氏体{110}α极射赤面投影图。利用EBSD技术... 为了研究马氏体的相变特征,利用电子背散射衍射(EBSD)技术并结合金相显微镜和显微硬度计分析低温回火的20MnCr5渗碳齿轮钢的性能和组织。根据马氏体相变理论中的K-S和N-W取向关系分别计算得到马氏体{110}α极射赤面投影图。利用EBSD技术对20MnCr5齿轮钢心部选定的区域进行扫描,分析区域中马氏体的取向分布特征。研究结果表明:马氏体取向整体呈随机分布,但在局部区域呈有规律分布。整个扫描区域的取向差主要分布在5°以下和45°以上。为反映马氏体局部区域取向分布的规律,选定一个原奥氏体晶粒,并做出区域中所有马氏体{110}α晶面的极射赤面投影图,得到极点有规律分布的极图。通过对{110}α极图分别使用K-S和N-W关系拟合,确定所选区域的马氏体的取向关系以N-W关系为主,实际极点离散分布在理论极点周围;使用协同形变机理解释实际取向分布与理论分布的偏差是由马氏体相变导致周围组织复杂的畸变引起。 展开更多
关键词 20MnCr5 电子背散射衍射技术 马氏体变体 取向关系
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半导体结构中局域弹性应变场的电子背散射衍射分析 被引量:3
18
作者 罗俊锋 王俊忠 +5 位作者 牛南辉 赵林林 张隐奇 郭霞 沈光地 吉元 《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第2期104-107,共4页
采用扫描电镜中的电子背散射衍射(Electron Backscattering Diffraction,EBSD)技术,对硼掺杂的可动悬空硅薄膜和用于激光二极管(LED)的蓝宝石衬底上异质外延生长GaN层中的弹性应变区进行了测量.将菊池图的图像质量(IQ)和Hough转... 采用扫描电镜中的电子背散射衍射(Electron Backscattering Diffraction,EBSD)技术,对硼掺杂的可动悬空硅薄膜和用于激光二极管(LED)的蓝宝石衬底上异质外延生长GaN层中的弹性应变区进行了测量.将菊池图的图像质量(IQ)和Hough转变强度,以及小角度晶界错配的统计数据作为应力敏感参数,研究了单晶材料系统中,微米~亚微米尺度的晶格畸变状态及局域弹性应变场.EBSD测试获得了硅薄膜窗口区域及LED的GaN外延层中的弹性应变分布. 展开更多
关键词 电子背散射衍射(ebsd) 弹性应变分布 硅薄膜 GAN外延层
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GaAs-AlGaAs外延结构中微区应力的电子背散射衍射分析 被引量:2
19
作者 田彦宝 吉元 +4 位作者 王俊忠 张隐奇 关宝璐 郭霞 沈光地 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第3期515-518,522,共5页
采用电子背散射衍射(EBSD)技术,以30~40nm的空间分辨率,显示GaAs—AlGaAs外延结构中的应力分布。将菊池花样质量JQ和Hough峰,以及晶格错配和局部转动等测量参数作为应力敏感参数,分析GaAs—AlGaAs周期外延层中的应变状态。通过... 采用电子背散射衍射(EBSD)技术,以30~40nm的空间分辨率,显示GaAs—AlGaAs外延结构中的应力分布。将菊池花样质量JQ和Hough峰,以及晶格错配和局部转动等测量参数作为应力敏感参数,分析GaAs—AlGaAs周期外延层中的应变状态。通过对菊池花样进行快速傅立叶变换和强度计算识别微区应变区域。 展开更多
关键词 电子背散射衍射(ebsd) 微区应力 GaAs—AlGaAs
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电子背散射衍射分析及在药型罩研究中的应用 被引量:2
20
作者 胡士廉 田文怀 孙起 《兵器材料科学与工程》 CAS CSCD 北大核心 1999年第5期35-38,共4页
简单介绍了电子背散射衍射原理、实验条件及应用,提出利用电子背散射衍射技术分析药型罩,通过初步研究指出,电子背散衍射将为药型罩的破甲抗旋机理的解释提供新的实验方法和手段。
关键词 药型罩 电子背散射 衍射分析 织构 ebsd
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