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纤锌矿型GaN电子迁移率的计算
1
作者
杨燕
郝跃
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第4期513-517,共5页
考虑了对纤锌矿型氮化镓低场电子输运影响最为显著的4种散射机制———电离杂质散射,极化光学波散射,声学波压电散射和声学声子形变势散射的单个平均动量驰豫时间,采用Mattiessensrule计算了不同补偿率以及不同载流子浓度条件下,氮化镓...
考虑了对纤锌矿型氮化镓低场电子输运影响最为显著的4种散射机制———电离杂质散射,极化光学波散射,声学波压电散射和声学声子形变势散射的单个平均动量驰豫时间,采用Mattiessensrule计算了不同补偿率以及不同载流子浓度条件下,氮化镓电子漂移迁移率,霍耳因子以及霍耳迁移率随温度的变化.计算表明,温度小于200K时总霍耳因子随温度的增加而增加,200K时达到峰值1.22,温度大于200K后霍耳因子则随着温度的增大而减小.此外,在包括室温在内的较高温度下,极化光学波散射对电子迁移率的变化起决定作用.温度较低时,声学波压电散射对电子迁移率的影响较大.
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关键词
氮化镓
电子漂移迁移率
霍耳因子
霍耳
迁移
率
补偿
率
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职称材料
题名
纤锌矿型GaN电子迁移率的计算
1
作者
杨燕
郝跃
机构
西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室
出处
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第4期513-517,共5页
基金
国家重大基础研究(973)项目(2002CB311904)
国家部委预先研究项目(41308060106)
文摘
考虑了对纤锌矿型氮化镓低场电子输运影响最为显著的4种散射机制———电离杂质散射,极化光学波散射,声学波压电散射和声学声子形变势散射的单个平均动量驰豫时间,采用Mattiessensrule计算了不同补偿率以及不同载流子浓度条件下,氮化镓电子漂移迁移率,霍耳因子以及霍耳迁移率随温度的变化.计算表明,温度小于200K时总霍耳因子随温度的增加而增加,200K时达到峰值1.22,温度大于200K后霍耳因子则随着温度的增大而减小.此外,在包括室温在内的较高温度下,极化光学波散射对电子迁移率的变化起决定作用.温度较低时,声学波压电散射对电子迁移率的影响较大.
关键词
氮化镓
电子漂移迁移率
霍耳因子
霍耳
迁移
率
补偿
率
Keywords
GaN
electron drift mobility
Hall factor
Hall mobility
compensation ratio
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
纤锌矿型GaN电子迁移率的计算
杨燕
郝跃
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
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