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题名用于反熔丝FPGA的内建测试电路
被引量：3
- 1
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作者
马金龙
卢礼兵
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机构
中国电子科技集团公司第五十八研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第2期153-158,共6页
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文摘
由于反熔丝器件的一次可编程特性,反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)在生产阶段很难完成对电路的功能测试验证。针对反熔丝FPGA典型的结构及其内部可编程逻辑模块(PLM)结构,分析了在编程前对PLM进行全功能测试的方法。设计了内建测试电路结构,用于内部PLM逻辑功能的测试。给出了内建测试电路的寻址寄存器、赋值寄存器以及检测电路的结构设计,电路在1.0μm双层多晶双层金属(2P2M)氧化层-氮化物-氧化层(ONO)反熔丝工艺上成功流片。测试结果表明,电路设计正确,解决了在芯片编程前完成基于反熔丝的一次可编程FPGA的内部PLM逻辑功能测试的难题,为后期研究反熔丝电路奠定了基础。
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关键词
反熔丝
现场可编程门阵列(FPGA)
可编程逻辑模块(PLM)
一次可编程器件
内建测试电路
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Keywords
antifuse
field programmable gate array （FPGA）
programmable logic module （PLM）
one-time programmable device
built-in testing circuit
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分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名eFuse器件的电迁移三维有限元仿真
被引量：1
- 2
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作者
王锦任
王家佳
赵晨阳
刘海南
李多力
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机构
中国科学院大学集成电路学院
中国科学院微电子研究所
中国科学院硅器件技术重点实验室
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出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2023年第7期577-584,599,共9页
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文摘
应用有限元分析软件建立了电可编程熔丝(eFuse)器件的三维有限元模型,通过离子流通量散度法和最小原子浓度法对eFuse器件的电迁移熔断过程进行了多物理场耦合有限元仿真,仿真结果能够较好地拟合器件的实际熔断效果。通过仿真对比了不同阴极面积和不同编程电压条件下的电迁移过程及熔断效果。结果表明,更大的阴极面积能够提高熔丝局部的温度梯度,从而提高熔断效率;更高的编程电压能够提供更高的电流密度和温度,从而加速电迁移的发生并增大了eFuse熔断区的面积。提出了一种具有外部辅助加热功能的eFuse器件结构,并在不同条件下进行了电迁移熔断仿真,结果表明该结构能够显著提高eFuse器件局部的离子流通量散度,从而提高eFuse存储单元的熔断效率和编程良率。
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关键词
电可编程熔丝(efuse)
电迁移
有限元仿真
离子流通量散度
热断裂
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Keywords
electrical fuse(efuse)
electromigration
finite element simulation
ionic flux divergence
thermal rupture
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分类号
TN389
[电子电信—物理电子学]
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题名一种适用于反熔丝FPGA的高效电荷泵电路
被引量：1
- 3
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作者
马金龙
于宗光
赵桂林
朱岱寅
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机构
南京航空航天大学电子信息工程学院雷达与微波光子技术教育部重点实验室
中国电子科技集团公司第五十八研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2023年第5期397-402,共6页
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基金
国家自然科学基金资助项目(62174150)
江苏省自然科学基金资助项目(BK20211040)。
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文摘
基于Dickson电荷泵结构,提出了一种适用于反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)的新型高效电荷泵电路,实现了电荷泵的快速启动。通过采用时钟信号升压电路,减少了电荷泵级数,并减小了电路总体面积和功耗。仿真结果显示,在2.5 V的工作电压和整体电路全负载的条件下,整体电路的启动时间约为20μs,可稳定输出电压5.46 V,工作电流约为618μA。采用0.18μm CMOS工艺流片并对其进行编程和测试,结果显示FPGA电路编程成功,功能正确,与仿真结果一致,表明了此电荷泵结构的可行性和实用性。
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关键词
反熔丝现场可编程门阵列(FPGA)
隔离电路
电荷泵
快速启动
信号升压
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Keywords
anti-fuse field programmable gate array(FPGA)
isolation circuit
charge pump
quick start
signal boost
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分类号
TP331.13
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名E-fuse阵列高效率测试验证方案及实现
- 4
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作者
陈礼清
林光启
赵瑞豪
梅杰
胡启誉
张克堂
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机构
中芯国际集成电路制造有限公司产品部
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出处
《电子测量技术》
2014年第11期11-15,共5页
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文摘
随着电编程熔丝(E-fuse)技术在集成电路领域中的应用越来越广泛,对测试验证环节的要求也越来越高,测试人员也面临更大的挑战,因此在电编程熔丝开发过程中,如何提高E-fuse测试验证效率是研究的重点和难点之一。基于E-fuse阵列在测试验证上的效率低、样品需求多、数据分析难等问题,对现有的测试验证方法提出了一种E-fuse阵列bits层面上实现编程的测试方案。相比较传统测试流程,该方案可以节省38.8%甚至90%以上的测试验证时间,同时还具有测试设置方便、样品需求少、数据精确度高等特性。
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关键词
测试技术
电可编程熔丝
高效率
验证
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Keywords
testing technology
electrically programmable fuse
high efficiency
verification
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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