为了对线性时不变系统进行频率特性进行测试,本设计提出了一种低成本、面向学生的频率特性测试仪的设计方案,本仪器为基于FPGA及高速ADC/DAC构建的数字频率特性测试仪系统。其通过DDS产生正弦扫频信号,经高速DAC转换输出,被测网络响应...为了对线性时不变系统进行频率特性进行测试,本设计提出了一种低成本、面向学生的频率特性测试仪的设计方案,本仪器为基于FPGA及高速ADC/DAC构建的数字频率特性测试仪系统。其通过DDS产生正弦扫频信号,经高速DAC转换输出,被测网络响应信号由ADC采集后输入FPGA,得出信号经被测网络后产生的幅度变化和相位变化。本仪器具有0~20 MHz的扫频范围、±40 d B输入增益范围、5°相位分辨率、可实时显示被测网络的幅频特性曲线和相频特性曲线,并可将测试结果保存为文件。本设计成本低、易实现、具有较强的可扩展性,可很好地满足目标人群的要求。展开更多
文摘为了对线性时不变系统进行频率特性进行测试,本设计提出了一种低成本、面向学生的频率特性测试仪的设计方案,本仪器为基于FPGA及高速ADC/DAC构建的数字频率特性测试仪系统。其通过DDS产生正弦扫频信号,经高速DAC转换输出,被测网络响应信号由ADC采集后输入FPGA,得出信号经被测网络后产生的幅度变化和相位变化。本仪器具有0~20 MHz的扫频范围、±40 d B输入增益范围、5°相位分辨率、可实时显示被测网络的幅频特性曲线和相频特性曲线,并可将测试结果保存为文件。本设计成本低、易实现、具有较强的可扩展性,可很好地满足目标人群的要求。
