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多元组份薄膜的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法
被引量：
1
1
作者
胡幼华
潘荫荣
朱惠彪
《华东师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第3期50-55,共6页
作者提出了入射电子在多元组份薄膜中所激发出的薄膜中各种元素的包括初次X射线和二次荧光在内的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法。用这一方法模拟计算了多个薄膜样品的特征X射线强度比 ,得到了与电子探针显微分析仪器测定的实验...
作者提出了入射电子在多元组份薄膜中所激发出的薄膜中各种元素的包括初次X射线和二次荧光在内的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法。用这一方法模拟计算了多个薄膜样品的特征X射线强度比 ,得到了与电子探针显微分析仪器测定的实验数据相一致的模拟结果。
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关键词
蒙特卡罗模拟
多元组份薄膜
特征x射线强度
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职称材料
基片上二元组份薄膜的定量分析的Monte Carlo模拟计算方法
2
作者
潘荫荣
胡幼华
朱惠彪
《应用概率统计》
CSCD
北大核心
2001年第2期180-184,共5页
本文用Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ方法对入射电子在薄膜中的散射和特征Ｘ射线的发射进行数学模拟，提出了基片上 二元组份薄膜成份的模拟计算方法．用这一方法模拟计算了若干个二元组份薄膜的成份，得到了与实验测定值相一致的模拟计算结果．
关键词
MONTE
CARLO方法
迭代算法
特征x射线强度
二元组份薄膜
随机过程定量分析
模拟计算
薄膜成份
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职称材料
电镜能谱仪中过渡金属元素的化学价态分析
被引量：
1
3
作者
姚青倩
许瑞梅
赵文霞
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2016年第3期212-216,共5页
本文利用电子探针-能谱仪(EPMA-EDS)对试样微米区域内过渡金属元素的化学价态进行了分析。研究结果表明,过渡金属元素的化学价态可以通过特征X射线L_α/K_β强度比值结果进行区分,但试样形状、组成成分和化学结构等都可能影响化学价态...
本文利用电子探针-能谱仪(EPMA-EDS)对试样微米区域内过渡金属元素的化学价态进行了分析。研究结果表明,过渡金属元素的化学价态可以通过特征X射线L_α/K_β强度比值结果进行区分,但试样形状、组成成分和化学结构等都可能影响化学价态的判断。此外,本文结合电子-离子碰撞的相关理论对实验结果进行了合理的解释,并将此方法应用到未知样品元素价态的判断中。研究结果对样品内部过渡金属元素化学价态的判断具有重要参考价值。
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关键词
能谱仪
过渡金属元素
化学价态
特征x射线强度
比值
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职称材料
题名
多元组份薄膜的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法
被引量：
1
1
作者
胡幼华
潘荫荣
朱惠彪
机构
华东师范大学计算机科学系
出处
《华东师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第3期50-55,共6页
文摘
作者提出了入射电子在多元组份薄膜中所激发出的薄膜中各种元素的包括初次X射线和二次荧光在内的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法。用这一方法模拟计算了多个薄膜样品的特征X射线强度比 ,得到了与电子探针显微分析仪器测定的实验数据相一致的模拟结果。
关键词
蒙特卡罗模拟
多元组份薄膜
特征x射线强度
Keywords
Monte Carlo simulation
quantitative electron probe microanalysis
multicomponent film
characteristic
x
-ray intensity
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
基片上二元组份薄膜的定量分析的Monte Carlo模拟计算方法
2
作者
潘荫荣
胡幼华
朱惠彪
机构
华东师范大学计算机科学技术系
出处
《应用概率统计》
CSCD
北大核心
2001年第2期180-184,共5页
文摘
本文用Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ方法对入射电子在薄膜中的散射和特征Ｘ射线的发射进行数学模拟，提出了基片上 二元组份薄膜成份的模拟计算方法．用这一方法模拟计算了若干个二元组份薄膜的成份，得到了与实验测定值相一致的模拟计算结果．
关键词
MONTE
CARLO方法
迭代算法
特征x射线强度
二元组份薄膜
随机过程定量分析
模拟计算
薄膜成份
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
O242.2 [理学—计算数学]
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职称材料
题名
电镜能谱仪中过渡金属元素的化学价态分析
被引量：
1
3
作者
姚青倩
许瑞梅
赵文霞
机构
中山大学测试中心
南开大学环境科学与工程学院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2016年第3期212-216,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.41273039)
文摘
本文利用电子探针-能谱仪(EPMA-EDS)对试样微米区域内过渡金属元素的化学价态进行了分析。研究结果表明,过渡金属元素的化学价态可以通过特征X射线L_α/K_β强度比值结果进行区分,但试样形状、组成成分和化学结构等都可能影响化学价态的判断。此外,本文结合电子-离子碰撞的相关理论对实验结果进行了合理的解释,并将此方法应用到未知样品元素价态的判断中。研究结果对样品内部过渡金属元素化学价态的判断具有重要参考价值。
关键词
能谱仪
过渡金属元素
化学价态
特征x射线强度
比值
Keywords
EDS
transition metal elements
valence states
the intensity ratios of characteristic
x
-rays
分类号
TH842 [机械工程—精密仪器及机械]
O614 [理学—无机化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多元组份薄膜的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法
胡幼华
潘荫荣
朱惠彪
《华东师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2000
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基片上二元组份薄膜的定量分析的Monte Carlo模拟计算方法
潘荫荣
胡幼华
朱惠彪
《应用概率统计》
CSCD
北大核心
2001
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
电镜能谱仪中过渡金属元素的化学价态分析
姚青倩
许瑞梅
赵文霞
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2016
1
在线阅读
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职称材料
已选择
0
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参考文献
引证文献
统计分析
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