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题名航空用片式电阻器硫化失效的工艺控制
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作者
王玉宝
勾文哲
黄国平
王晓卫
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机构
成都天奥电子股份有限公司
深圳市振华微电子有限公司
电子科技大学(深圳)高等研究院
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出处
《电讯技术》
北大核心
2025年第7期1174-1178,共5页
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文摘
针对航空用片式电阻器在含硫环境中因硫化失效(阻值漂移/开路)导致的航电系统可靠性风险,通过研究揭示了失效的底层机制:玻璃保护层与正面电极结合缺陷使内部银电极暴露,与硫化物反应生成高阻态Ag_(2)S物质。通过失效分析和工艺溯源,明确生产过程中的不当机械应力损伤(如编带环节的立片/斜片)是造成保护层破裂的关键诱因。基于此,提出系统化解决方案,包括电阻制造过程工艺优化、电阻抗硫化设计、封装工艺优化和含硫材料管控。通过上述综合措施的实施并结合加速硫化试验证明,该策略可有效阻断硫侵蚀通道,提升电阻器可靠性。相关研究为航电系统抗硫化失效提供了可落地的工艺控制路径。
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关键词
航电系统
片式电阻器
硫化失效
应力损坏
工艺控制
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Keywords
avionics system
chip resistor
sulfurization failure
mechanical stress damage
manufacturing process control
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分类号
TN605
[电子电信—电路与系统]
V261
[航空宇航科学与技术—航空宇航制造工程]
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题名雷达用片式电阻器件激光钎焊技术研究
被引量：2
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作者
蔡志清
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机构
南京电子技术研究所
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出处
《现代雷达》
CSCD
北大核心
2020年第12期88-91,共4页
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文摘
片式电阻器件在雷达阵面微波组件中应用广泛,文中采用激光钎焊的方法在印刷电路基板上进行片式电阻器件的焊接,得到了表面光亮、无氧化、成型良好的焊点,经对焊点力学性能、显微组织、断口形貌进行分析,得到的研究结论为:激光钎焊片式电阻器件焊点接头成型性好,其焊点力学性能明显优于红外再流焊焊点。激光钎焊获得的钎料/基体的显微组织可以比红外再流焊更加优异,焊点强度显著提高。观察、分析焊点的微观形貌,断裂处呈现明显的韧窝状态,这说明了激光钎焊焊点具有很强的塑变能力。
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关键词
雷达用片式电阻器件
激光钎焊
力学性能
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Keywords
rectangular chip resistors used in radar
laser soldering
mechanical properties
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名多层片式压敏电阻器的应用
被引量：6
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作者
王兰义
吕呈祥
景志刚
杜辉
唐国翌
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机构
清华大学深圳研究生院新材料研究所
河南金冠王码信息产业股份有限公司
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出处
《传感器与微系统》
CSCD
北大核心
2006年第5期1-4,共4页
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基金
河南省重点科技攻关计划资助项目(0523020200)
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文摘
介绍了多层片式压敏电阻器的分类和应用范围,指出它是目前电路中浪涌防护的最佳保护元件,详述了它在一般信号线路和高频信号线路静电放电保护中的应用。其主要应用领域为汽车电子、通信、计算机、消费类电子产品和军用电子产品等,其应用发展趋势为小型化、阵列化、复合化和低电容化等。
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关键词
多层片式压敏电阻器
过电压保护
静电放电保护
氧化锌
钛酸锶
应用
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Keywords
muhilayer chip varistors （ MLCVs ）
overvoltage protection
electrostatic discharge protection
zinc oxide
strontium titanate
application
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分类号
TM546
[电气工程—电器]
TN379
[电子电信—物理电子学]
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题名粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响
被引量：1
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作者
钟明峰
苏达根
庄严
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机构
华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室
广州新日电子有限公司
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出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期117-119,122,共4页
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基金
广州市重点科技攻关项目(2002Z2-D0011)
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文摘
通过调整 Bi_2O_3、Sb_2O_3、TiO_2、B_2O_3、BaCO_3等少量添加剂的掺量,可在低温880℃下与10%Pd-90%Ag内电极共烧,制得性能优良的多层片式氧化锌压敏电阻器(ZnO MLCV)。主要采用两种不同颗粒细度的 ZnO 粉体来研究粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响。研究发现适当地使用部分超细 ZnO 粉体,改善 ZnO 粉体的颗粒分布,再使用适量的磷酸酯作为分散剂,可以流延制得较致密、平整、均匀的膜片,从而制得瓷体的致密性较高,且非线性系数较高、漏电流较低、峰值电流及能量耐量较高的多层片式压敏电阻器;而 ZnO 粉体颗粒粒径太大及过细,都会影响膜片的质量,进而影响多层片式压敏电阻器的性能。XRD 衍射分析发现 ZnO 粉体颗粒细度的改变对瓷体的物相组成无明显影响。
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关键词
多层片式压敏电阻器
粉体颗粒细度
膜片质量
电性能
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Keywords
multilayer chip varistor
particle distribution
quality of green tape
electric performance
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分类号
TN304
[电子电信—物理电子学]
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