期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
面向微处理器核的片上老化检测模块设计
被引量：
1
1
作者
刘帅
虞致国
+1 位作者
洪广伟
顾晓峰
《传感器与微系统》
CSCD
北大核心
2021年第2期89-91,94,共4页
为检测负偏压温度不稳定性(NBTI)效应导致的微处理器中组合逻辑路径延迟的增大,设计了一种可感知微处理器核NBTI效应的混合结构检测模块。检测模块包括老化延时探测模块及测量模块,能够准确测量NBTI效应造成的电路延时增量;相比于传统...
为检测负偏压温度不稳定性(NBTI)效应导致的微处理器中组合逻辑路径延迟的增大,设计了一种可感知微处理器核NBTI效应的混合结构检测模块。检测模块包括老化延时探测模块及测量模块,能够准确测量NBTI效应造成的电路延时增量;相比于传统单一的延迟线结构,其面积开销降低40%。所设计的结构在ISCAS与OR1200核上实验,延时测量精度达到94%以上,可为微处理器的可靠性设计提供细粒度的防护。
展开更多
关键词
微处理器
负偏压温度不稳定性
片上老化测量
细粒度
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
面向微处理器核的片上老化检测模块设计
被引量：
1
1
作者
刘帅
虞致国
洪广伟
顾晓峰
机构
江南大学物联网技术应用教育部工程研究中心电子工程系
出处
《传感器与微系统》
CSCD
北大核心
2021年第2期89-91,94,共4页
基金
中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(JUSRP51510)
江苏省研究生科研与实践创新计划资助项目(SICX18_0647)
江苏省重点研发计划资助项目。
文摘
为检测负偏压温度不稳定性(NBTI)效应导致的微处理器中组合逻辑路径延迟的增大,设计了一种可感知微处理器核NBTI效应的混合结构检测模块。检测模块包括老化延时探测模块及测量模块,能够准确测量NBTI效应造成的电路延时增量;相比于传统单一的延迟线结构,其面积开销降低40%。所设计的结构在ISCAS与OR1200核上实验,延时测量精度达到94%以上,可为微处理器的可靠性设计提供细粒度的防护。
关键词
微处理器
负偏压温度不稳定性
片上老化测量
细粒度
Keywords
microprocessor
negative bias temperature instability(NBTI)
on-chip aging measurement
fine-grained
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
面向微处理器核的片上老化检测模块设计
刘帅
虞致国
洪广伟
顾晓峰
《传感器与微系统》
CSCD
北大核心
2021
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
