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基于稳健设计的PBGA器件焊点热机械疲劳可靠性的优化设计 被引量:8
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作者 周继承 肖小清 +1 位作者 恩云飞 何小琦 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第11期2180-2183,共4页
基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以... 基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以对焊点热机械疲劳寿命的考核为目标,对PBGA焊点进行了优化设计.结果表明,影响焊点可靠性的显著性因素依次是基板热膨胀系数、焊点的热膨胀系数、基板厚度、芯片的热膨胀系数;最优方案组合为A182C3D1E2F1G3H1.进一步的验证试验结果表明,与原始方案相比,该优化方案的最大等效应变降低了66%,信噪比提高了22.4%. 展开更多
关键词 塑封球栅阵列 热机械疲劳可靠性 稳健设计 有限元法
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