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基于稳健设计的PBGA器件焊点热机械疲劳可靠性的优化设计
被引量:
8
1
作者
周继承
肖小清
+1 位作者
恩云飞
何小琦
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第11期2180-2183,共4页
基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以...
基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以对焊点热机械疲劳寿命的考核为目标,对PBGA焊点进行了优化设计.结果表明,影响焊点可靠性的显著性因素依次是基板热膨胀系数、焊点的热膨胀系数、基板厚度、芯片的热膨胀系数;最优方案组合为A182C3D1E2F1G3H1.进一步的验证试验结果表明,与原始方案相比,该优化方案的最大等效应变降低了66%,信噪比提高了22.4%.
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关键词
塑封球栅阵列
热机械疲劳可靠性
稳健设计
有限元法
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职称材料
题名
基于稳健设计的PBGA器件焊点热机械疲劳可靠性的优化设计
被引量:
8
1
作者
周继承
肖小清
恩云飞
何小琦
机构
中南大学物理科学与技术学院
信息产业部电子第五研究所
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第11期2180-2183,共4页
基金
国家自然科学基金(No.60371046)
可靠性物理与应用技术国家级重点实验室基金(No.9140C0301060C03001)
文摘
基于稳健设计与有限元法,研究了加速热循环测试条件下塑封球栅阵列(PBGA)焊点的热机械疲劳可靠性.考虑PCB大小(A)、基板厚度(D)、芯片热膨胀系数(G)、焊点热膨胀系数(H)等八个控制因素,使用L18(2^1×3^7)混合正交表,以对焊点热机械疲劳寿命的考核为目标,对PBGA焊点进行了优化设计.结果表明,影响焊点可靠性的显著性因素依次是基板热膨胀系数、焊点的热膨胀系数、基板厚度、芯片的热膨胀系数;最优方案组合为A182C3D1E2F1G3H1.进一步的验证试验结果表明,与原始方案相比,该优化方案的最大等效应变降低了66%,信噪比提高了22.4%.
关键词
塑封球栅阵列
热机械疲劳可靠性
稳健设计
有限元法
Keywords
plastic ball grid array
thermo-mechanical fatigue reliability
robust design
finite element method
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于稳健设计的PBGA器件焊点热机械疲劳可靠性的优化设计
周继承
肖小清
恩云飞
何小琦
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
8
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