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激光焦平面探测器组件工作寿命评估方法
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作者 梁晨宇 周小燕 +4 位作者 孔繁林 路小龙 邹红强 李龙 柯尊贵 《半导体技术》 北大核心 2025年第8期869-872,共4页
激光焦平面探测器组件作为激光三维成像系统的核心组成部分,需要具备高可靠性和长使用寿命。通过故障模式、影响及危害性分析(FMECA)系统识别了激光焦平面探测器组件的寿命薄弱环节,深入剖析了影响其寿命的主要因素,并提出以薄弱环节替... 激光焦平面探测器组件作为激光三维成像系统的核心组成部分,需要具备高可靠性和长使用寿命。通过故障模式、影响及危害性分析(FMECA)系统识别了激光焦平面探测器组件的寿命薄弱环节,深入剖析了影响其寿命的主要因素,并提出以薄弱环节替代整体产品进行寿命评估的方法。针对激光焦平面探测器组件存在长寿命周期与试验样本量有限的特点,提出了一种k/n可靠性建模方法。基于正常应力下的小样本寿命试验,利用像元寿命数据实现对探测器整体寿命的推导计算。试验结果表明,k/n模型能够在较小样本量条件下对激光焦平面探测器组件工作寿命进行评估,有助于解决此类产品研制周期短、试验样本少的难题。 展开更多
关键词 激光焦平面探测器组件 薄弱环节 k/n模型 小样本 工作寿命
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激光焦平面变化对LA-ICPMS锆石U-Pb定年准确度的影响 被引量:22
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作者 于超 杨志明 +6 位作者 周利敏 张亮亮 李振清 赵苗 张佳钰 陈微言 索明石 《矿床地质》 CAS CSCD 北大核心 2019年第1期21-28,共8页
元素分馏是影响LA-ICPMS锆石U-Pb定年准确度的重要因素之一,通常利用标样进行校正。激光聚焦位置变化会引起剥蚀坑形貌及U-Pb分馏的改变,标样和样品聚焦条件不一致将导致标样难以准确校正样品,并最终影响定年结果的准确性,但影响的程度... 元素分馏是影响LA-ICPMS锆石U-Pb定年准确度的重要因素之一,通常利用标样进行校正。激光聚焦位置变化会引起剥蚀坑形貌及U-Pb分馏的改变,标样和样品聚焦条件不一致将导致标样难以准确校正样品,并最终影响定年结果的准确性,但影响的程度、机制及可容忍范围目前尚不清楚。为此,文章以91500为标样、GJ-1为样品,详细研究了聚焦偏离30μm范围内剥蚀标样与样品锆石的剥蚀坑形貌变化以及由此导致的U-Pb定年误差。实验表明,在距离锆石表面30μm范围内,标样和样品焦平面同步变化时,二者U-Pb分馏形式及程度基本一致,激光焦平面偏离所引起的样品年龄与TIMS推荐值的偏差小于1%;当二者聚焦不同步时,标样与样品的U-Pb分馏差别显著,年龄偏差最大可超过3%。激光聚焦不同步导致的标样与样品剥蚀坑纵横比差异是引起年龄误差的根本原因,激光焦平面偏离锆石表面超过15μm,剥蚀坑坑口明显变大,纵横比减小,U-Pb分馏形式及程度发生改变。通过预剥蚀锆石,观察剥蚀坑轮廓,使激光焦平面在距离锆石样品表面15μm范围内,可确保标样与样品剥蚀坑形貌及U-Pb分馏状态一致,提高LA-ICPMS定年的准确度。 展开更多
关键词 地球化学 LA-ICPMS 锆石U-PB年代学 准确度 激光焦平面 剥蚀坑形貌
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激光焦平面探测器组件贮存寿命评估方法研究
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作者 周小燕 梁晨宇 +6 位作者 孔繁林 邹红强 王林青 路小龙 刘期斌 邓世杰 郝昕 《激光与红外》 2025年第9期1376-1378,共3页
针对弹载激光焦平面探测器组件“长期贮存、一次使用”的特点,本文通过FMEA分析,确定激光焦平面探测器组件的薄弱环节,研究影响激光焦平面探测器组件贮存寿命的因素,采用薄弱环节加速寿命试验方法,选择合适的激活能,设计并实施加速寿命... 针对弹载激光焦平面探测器组件“长期贮存、一次使用”的特点,本文通过FMEA分析,确定激光焦平面探测器组件的薄弱环节,研究影响激光焦平面探测器组件贮存寿命的因素,采用薄弱环节加速寿命试验方法,选择合适的激活能,设计并实施加速寿命试验,完成贮存寿命的评估与验证,有助于解决项目研制周期短、试验样品少的寿命评估难题。 展开更多
关键词 激光焦平面探测器组件 加速寿命试验 温度应力 激活能
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