用于硅漂移探测器读出的低噪声前放ASIC芯片研制

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作者 刘灿文 邓智 +1 位作者 叶祥柯 李政 《核电子学与探测技术》 北大核心 2025年第4期441-446,共6页

本文介绍了一款用于硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)的低噪声CMOS前放ASIC的设计和测试情况。本文通过原理图仿真确定了前放输入晶体管的尺寸和电流,并对前放结构和相关晶体管尺寸进行了优化;通过版图后仿真保证了实际芯片性... 本文介绍了一款用于硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)的低噪声CMOS前放ASIC的设计和测试情况。本文通过原理图仿真确定了前放输入晶体管的尺寸和电流,并对前放结构和相关晶体管尺寸进行了优化;通过版图后仿真保证了实际芯片性能和仿真性能的一致性。最终芯片核心电路的版图尺寸为770μm×580μm。仿真输出波形上升时间约为50 ns,探测器漏电流为0.2 pA,达峰时间为12μs时的等效噪声电荷(Equivalent Noise Charge,ENC)约为4.8 e^(-)@20℃。对前放芯片进行了纯电子学测试,实际测得芯片输出波形上升时间约为60 ns,12μs达峰时间时ENC约为5.3 e^(-)@20℃。连SDD进行了^(55) Fe Mn-Kα能谱测试,在温度为-80℃,探测器漏电流为0.005 pA,采用数字梯形滤波电路上升时间为20μs时,测得5.9 keV能峰的能量分辨率半高宽为149.9 eV。 展开更多

关键词 电荷灵敏前放 低噪声 ASIC 硅漂移探测器

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硅漂移探测器中逃逸峰的分析与计算

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作者 廖学亮 刘明博 +1 位作者 程大伟 沈学静 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第5期1297-1300,共4页

能量色散X射线荧光光谱所使用的硅漂移探测器(SDD)在检测过程中会在个别含量较高待测元素所产生的较强特征峰的低能侧形成逃逸峰,其相应的特征峰也会损失一部分强度,逃逸峰的产生位置与探测器的成分有关;SDD探测器中入射特征峰与逃逸峰... 能量色散X射线荧光光谱所使用的硅漂移探测器(SDD)在检测过程中会在个别含量较高待测元素所产生的较强特征峰的低能侧形成逃逸峰,其相应的特征峰也会损失一部分强度,逃逸峰的产生位置与探测器的成分有关;SDD探测器中入射特征峰与逃逸峰之间的能量差值为1.739 keV,等于硅原子的K_(α)特征能量,逃逸峰的强度与入射X射线的强度成正比,即与相应元素的含量/特征峰强度成正比,通常的入射特征峰逃逸概率比较低,在逃逸峰强度较低时对测试结果影响较小,当基体元素含量较高时产生的逃逸峰较大就会导致测试结果偏差较大;通过理论计算可以看出,逃逸峰的产生概率与探测器角度及元素种类等条件有关,从硅原子的质量吸收系数的变化趋势可以发现,随着入射特征线能量的增大硅原子对其的质量吸收系数降低,相应入射线的逃逸峰产生概率也会降低。当逃逸峰与其他待测元素的特征能量峰位置有重合时,会干扰相应元素的准确测量,导致相应元素的特征峰强度偏大,尤其是当待测元素含量较低时,其产生的特征峰强度较小,逃逸峰导致的本底强度所产生的干扰相对更大,因此需要对逃逸峰进行准确计算和校正。搭建了相应的平台进行测试,并以Fe和Mn元素为例,通过对SDD探测器中两种元素产生的逃逸峰概率进行理论分析与计算,并与实际测试谱图得到的逃逸概率值进行对比,发现两种数据符合较好,并且经对比发现在Fe_(2)O_(3)样品中的Fe∶K_(β)线的逃逸峰与Cr∶K_(α)峰重合,Fe∶K_(α)线的逃逸峰与Ti∶K_(α)峰有部分重合,在扣去逃逸峰后可以降低检出限,以更好地对Cr和Ti进行准确定量,该方法可扩展到其他含量较高元素的逃逸峰计算与校正,尤其是在土壤、矿物、合金检测等个别元素含量较高的样品中多元素检测方面的应用,可提高X射线荧光方法的测试准确度。 展开更多

关键词 逃逸峰 能量色散X射线荧光光谱法 硅漂移探测器

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硅漂移探测器的制作工艺及特性研究 被引量：6

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作者 吴广国 黄勇 +7 位作者 贾彬 曹学蕾 孟祥承 王焕玉 李秀芝 梁琨 杨茹 韩德俊 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期436-441,共6页

采用双面并行的平面工艺研制出了有源区面积5mm2的硅漂移探测器(SDD)。这种双面并行的平面工艺使得SDD绝大部分正面和背面的pn结结构能够并行完成,极大地减少了工艺步骤,降低了器件制作的难度。对研制的SDD的漏电流、电势分布、光电子... 采用双面并行的平面工艺研制出了有源区面积5mm2的硅漂移探测器(SDD)。这种双面并行的平面工艺使得SDD绝大部分正面和背面的pn结结构能够并行完成,极大地减少了工艺步骤,降低了器件制作的难度。对研制的SDD的漏电流、电势分布、光电子的漂移特性等进行了测量和分析,对238Puα射线源的能谱进行了测量,对正常工作状态下出现的悬空阳极电位进行了分析和讨论。报道了利用阳极漏电流、光电子漂移特性、悬空阳极电位对SDD芯片进行中测和封装前快速筛选的方法。 展开更多

关键词 硅漂移探测器 制作工艺 光响应度 漂移特性 悬空阳极电位

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电子照射对硅漂移探测器性能的影响 被引量：3

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作者 张斌全 韦飞 +1 位作者 冷双 王世金 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期235-238,共4页

由于高能电子辐射的长期照射,新一代太阳X射线探测器硅漂移传感器的探测性能可能发生变化.通过用电子放射源模拟空间电子对硅漂移探测器进行辐射照射试验,以测试电子照射对传感器能量分辨率、效率、信号幅度等性能的影响.试验结果表明,... 由于高能电子辐射的长期照射,新一代太阳X射线探测器硅漂移传感器的探测性能可能发生变化.通过用电子放射源模拟空间电子对硅漂移探测器进行辐射照射试验,以测试电子照射对传感器能量分辨率、效率、信号幅度等性能的影响.试验结果表明,长期的电子照射造成硅漂移探测器面损伤和体损伤,使其漏电流增大,信号幅度减小,能量分辨率也受到照射的影响,而探测效率未发生变化. 展开更多

关键词 太阳X射线 硅漂移探测器 电子 照射

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EAST全超导托卡马克上硅漂移探测器软X射线能谱诊断 被引量：3

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作者 许平 林士耀 +6 位作者 胡立群 张继宗 段艳敏 钟国强 卢洪伟 陈开云 无 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第6期757-763,共7页

采用性能优越的15道硅漂移探测器(SDD)阵列,在EAST全超导托卡马克上建立了1套较为完善的软X射线能谱诊断系统,用以测量等离子体在软X射线辐射能段(1～20keV)的能谱。该诊断系统的观测范围基本覆盖了整个等离子体空间,因此,可满足EAST不... 采用性能优越的15道硅漂移探测器(SDD)阵列,在EAST全超导托卡马克上建立了1套较为完善的软X射线能谱诊断系统,用以测量等离子体在软X射线辐射能段(1～20keV)的能谱。该诊断系统的观测范围基本覆盖了整个等离子体空间,因此,可满足EAST不同放电位形下电子温度测量的要求。利用该诊断系统,可获得时间分辨达50ms、空间分辨约为7cm的电子温度剖面。通过对比发现,由该诊断系统所得到的电子温度与其它电子温度诊断系统所测量的电子温度基本一致。此外,该诊断系统还可监测在软X射线能量范围内出现的一些金属杂质的特征线辐射。 展开更多

关键词 EAST托卡马克 电子温度 软X射线能谱 硅漂移探测器

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硅漂移探测器探测效率标定研究 被引量：2

6

作者 郄晓雨 郭思明 +4 位作者 郭锴悦 蒋政 余涛 吴金杰 任世伟 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2022年第10期49-54,共6页

单能X射线标定装置是基于布拉格衍射原理产生单能X射线的装置,能量连续可调的单能X射线可以为探测器提供能量可选的详细标定实验。使用蒙特卡洛计算软件对两个不同型号的硅漂移探测器的探测效率进行模拟计算,得到3~50 keV能量段的探测效... 单能X射线标定装置是基于布拉格衍射原理产生单能X射线的装置,能量连续可调的单能X射线可以为探测器提供能量可选的详细标定实验。使用蒙特卡洛计算软件对两个不同型号的硅漂移探测器的探测效率进行模拟计算,得到3~50 keV能量段的探测效率,在单能X射线标定装置上完成了硅漂移探测器探测效率的标定实验,得到实验测量的探测效率曲线,并与模拟效率曲线对比。其中,PNDetector公司的MLC型硅漂移探测器的实验结果与理论计算结果的误差最大值为4.23%@15 keV,KETEX公司的BEV 133型硅漂移探测器的实验结果与理论计算结果的最大误差为-6.88%@12 keV。结果表明,在7~16 keV能量段,两个探测器的实验标定结果与理论计算结果相符,在8 keV左右,实际探测效率大于90%。研究成果验证了使用基于布拉格晶体衍射原理的单能X射线用于探测器标定的优越性,为国产化X射线探测器提供可靠的性能研究与测试平台。 展开更多

关键词 单能硬X射线 硅漂移探测器 探测效率 探测器效率标定

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一种硅漂移探测器的优化设计与特性研究

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作者 刘瑶光 殷华湘 +2 位作者 吴次南 许高博 翟琼华 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第1期7-11,共5页

硅漂移探测器(SDD)因能量分辨率高和计数率高广泛应用于X射线的探测分析。阐述了同心圆环结构的圆柱形硅漂移探测器的工作原理,基于该结构采用TCAD仿真其内部电势分布、电场分布和电子浓度分布,依照仿真结果对器件结构进行优化,并对所... 硅漂移探测器(SDD)因能量分辨率高和计数率高广泛应用于X射线的探测分析。阐述了同心圆环结构的圆柱形硅漂移探测器的工作原理,基于该结构采用TCAD仿真其内部电势分布、电场分布和电子浓度分布,依照仿真结果对器件结构进行优化,并对所研制的器件电学特性进行了测试分析。结果表明,优化后的硅漂移探测器内部漂移电场较为均匀并且电场强度较强,能够满足探测器的设计需求。 展开更多

关键词 半导体探测器 硅漂移探测器 模拟仿真 测试

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硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断 被引量：6

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作者 杨进蔚 张炜 +1 位作者 宋先瑛 李旭 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期331-334,共4页

采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,... 采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓存器,电子温度测量的时、空分辨能力接近汤姆逊散射和ECE等方法,而测量精确度、使用寿命、造价、抗干扰能力、适应性等方面优于后者,且信息获取量大,可获得多种等离子体参数而备受重视,是一种最先进的诊断手段。 展开更多

关键词 硅漂移探测器 软X射线能谱 电子温度 磁约束聚变装置

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PIN型辐射探测器的并联使用 被引量：3

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作者 施伟红 陈鸿飞 +4 位作者 邹鸿 邹积清 田大宇 宁宝俊 张录 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第5期908-910,共3页

由于高能电子的穿透能力较强,需要采用较厚的探测器进行探测。在中巴合作资源卫星上的星内粒子探测器,以往采用的是锂漂移型探测器。由于锂漂移型探测器有噪声大、不稳定等弱点,我们在新一代仪器上采用了离子注入型PIN探测器。但是,PIN... 由于高能电子的穿透能力较强,需要采用较厚的探测器进行探测。在中巴合作资源卫星上的星内粒子探测器,以往采用的是锂漂移型探测器。由于锂漂移型探测器有噪声大、不稳定等弱点,我们在新一代仪器上采用了离子注入型PIN探测器。但是,PIN探测器厚度有限,因而采用并联方法。本文就PIN探测器的并联应用进行实验和分析,证明其可行性。 展开更多

关键词 空间高能电子探测 半导体探测器锂漂移探测器 PIN探测器

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X射线光谱中特征峰漂移校正算法的研究 被引量：3

10

作者 唐琳 廖先莉 +3 位作者 刘星月 赵永鑫 李跃鹏 余松科 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第11期3633-3638,共6页

针对采用数字慢三角成形算法的高性能硅漂移探测器在开关复位型前放中出现的突变脉冲以及该类脉冲在成形后因幅度受损造成的特征峰漂移问题,提出了一种基于突变脉冲修复的特征峰漂移校正算法,该算法包括以下几个流程,首先将该电路输出... 针对采用数字慢三角成形算法的高性能硅漂移探测器在开关复位型前放中出现的突变脉冲以及该类脉冲在成形后因幅度受损造成的特征峰漂移问题,提出了一种基于突变脉冲修复的特征峰漂移校正算法,该算法包括以下几个流程,首先将该电路输出的弱电流信号经CR微分电路进行转换得到负指数信号,然后负指数信号经三级放大电路放大后的幅度范围为0~2 V,该幅度范围保持在后端模数转换器的处理范围中,对放大后的负指数信号进行模数转换得到数字化的负指数脉冲序列,通过对上述负指数脉冲序列的采样点进行判断,当出现连续多个为零的采样点时就标记该脉冲为突变脉冲,最后对突变脉冲分别调用快校正和慢校正算法进行修复,并将修复后的负指数脉冲序列分别进行数字梯形成形,其成形结果存储到FIFO中进行多道成谱。实验以自制的铁矿样品为测量对象,将未进行校正的原始谱与采用不同校正方法得到的谱图进行对比,校正后铁和锶特征峰的影子峰所在道址区间的计数相比于未校正的原始谱的计数率有了明显的降低,与此同时,铁和锶两个特征峰所在道址区间的计数相比于不校正则有了明显的提高。由于特征峰计数率的漂移正是产生影子峰的根本原因,因此同一种元素在影子峰区域计数率的减小值与在特征峰区域计数率的增加值在数值上应趋于一致,实验结果中铁元素的影子峰和特征峰所在区间快校正和慢校正前后的计数率差值基本符合这一趋势,但锶元素影子峰和特征峰所在区间的快校正前后计数率差值相差较大,不符合影子峰计数减小值即为特征峰计数增加值的规律。造成这种结果的根本原因在于快校正对突变脉冲的修复不完整,而慢校正可以较好地实现所有采样点的修复,最后得出的修复效率也表明对于同样的区间,慢校正法得到的修复效率更高,对特征峰漂移的校正效果更好。结果表明特征峰漂移校正算法可以有效地消除特征峰前面的影子峰,实现对特征峰漂移的校正,这对获取精细X射线谱具有重要意义。 展开更多

关键词 特征峰漂移 X射线光谱 脉冲修复 高性能硅漂移探测器

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SDD-EDXRF中FP法无标样校正钒钛铁间吸收增强效应 被引量：3

11

作者 刘敏 庹先国 +2 位作者 李哲 石睿 张金钊 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第10期1192-1195,1200,共5页

依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-E... 依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF)进行能谱测量,采用自行开发的FP法无标样分析程序,分析得到了三元系混合样品中各元素的含量。结果表明该无标样数理模型能较好地克服V-Ti-Fe元素间的吸收增强效应,方法的精密度相对标准偏差低于0.9%,测量值与实际值的最低相对误差小于1%。 展开更多

关键词 FP法 无标样 能量色散X荧光分析 硅漂移探测器 伪三元系

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X射线光谱数据处理平台的优化设计 被引量：3

12

作者 唐琳 赵卫东 +4 位作者 余松科 刘泽 余小东 孟源 黄兴禄 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2021年第3期763-767,共5页

在低计数率背景下X射线谱的高精度测量受X射线流的统计涨落影响,统计涨落决定了给定探测器能量分辨率的理论极限,而其他因素的影响则可以通过适当的噪声滤除和电子技术来降低。以往关于能量分辨率的研究大多利用谱反卷积对获取到的能谱... 在低计数率背景下X射线谱的高精度测量受X射线流的统计涨落影响,统计涨落决定了给定探测器能量分辨率的理论极限,而其他因素的影响则可以通过适当的噪声滤除和电子技术来降低。以往关于能量分辨率的研究大多利用谱反卷积对获取到的能谱进行后处理,从而降低特征峰的半高宽(FWHM)。这些后处理方法是基于将获取到的能谱建模为输入能谱和探测器响应函数这两个随机变量的函数,往往计算量极大,执行效率低。针对上述问题,提出一种多脉冲局部平均(MPLA)算法对X射线光谱数据处理平台进行优化,MPLA算法是一种在线实时处理的谱获取方法,该方法在动态窗口内对脉冲幅度值进行了平均。MPLA算法涉及两项可变参数,一是平均窗口的大小r,另一项参数则是每一次平均的脉冲幅度数量n。该算法的执行流程包含以下几个步骤,首先读取第一个脉冲幅度并定位一个平均窗口,读取成功后更新当前平均窗口的脉冲幅度和脉冲个数;第二步,读取下一个脉冲幅度,每次更新后即对平均窗口内的脉冲个数进行判断,当其小于预设的参数n时继续执行第三步,反之则执行第四步;第三步,继续读取下一个脉冲幅度;第四步,对相应平均窗口内的脉冲幅度进行平均,得出的平均数即为需要更新计数的道址,然后再对取平均值的窗口内脉冲幅度和脉冲个数进行清零。本文在理论推导部分研究了应用M PLA过程时原始概率密度函数(PDF)的转换,推导了应用MPLA后得到的概率密度函数的解析表达式,证明了MPLA概率密度转换后具有以下特征:(1)对称分布,MPLA保留了均值和对称性。(2)对于单峰对称分布,MPLA减少方差,锐化分布峰。在实验环节中,以铁矿样品为测量对象,将采用MPLA算法处理后的结果与传统的成谱方法得到的结果进行对比,结果表明在具有正态分布PDF的频谱峰值的典型情况下,即使仅对两个脉冲高度进行平均,变换后峰的FWHM也变窄。 展开更多

关键词 多脉冲局部平均 X射线光谱 半高宽 高性能硅漂移探测器

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FP法在SDD-EDXRF无标样分析技术中的应用研究 被引量：3

13

作者 刘敏 庹先国 +1 位作者 李哲 石睿 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第9期1096-1099,1104,共5页

为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe... 为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe-Ti两种伪二元体系样品进行能谱测量,并采用自行开发的FP法计算程序,分析得到了混合样品中各元素含量,含量的计算值与实际值的最低相对误差小于2%,精密度相对标准偏差低于0.8%。结果表明,所建立的FP法分析模型,能较好克服元素间的吸收增强效应,可应用于SDD-EDXRF的无标样分析过程。 展开更多

关键词 能量色散X荧光分析 基本参数法 硅漂移探测器 伪二元系

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一种基于热释电效应的X射线荧光分析谱仪 被引量：2

14

作者 董亦凡 樊瑞睿 +6 位作者 郭东亚 张春雷 高旻 汪锦州 刘雅清 周大卫 王焕玉 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第2期550-554,共5页

利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个X射线荧光分析谱仪。首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的影响选定了激发源的设计参数;然后测量了激发源发射的X射线本底,... 利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个X射线荧光分析谱仪。首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的影响选定了激发源的设计参数;然后测量了激发源发射的X射线本底,其能量范围在1~27keV,包含有Cu和Ta的特征X射线,最大强度在每秒3 000个计数以上,对本底的测量同时显示出谱仪的探测器部分对Cu的8.05keV特征峰的分辨率达到210eV,具有很高的能量分辨率;最后使用该谱仪测试了Fe,Ti和Cr等三种单质样品和高钛玄武岩样品,测试结果表明该谱仪可以有效的分析出样品的元素成分。由于这种X射线荧光分析谱仪的各组成部分体积都很小,进一步便携化后非常适合于非破坏、现场和快速的元素分析场合。 展开更多

关键词 热释电 硅漂移探测器 X射线荧光分析

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提高热场扫描电镜能谱空间分辨率的方法研究 被引量：3

15

作者 黎爽 邓平晔 《分析科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第6期824-828,共5页

本文采用薄片法原理,设计出已获专利授权的新型扫描电镜载样装置,并将其安装在扫描电镜中,对分散为薄层的混合纳米材料进行元素分布测试。应用热场电镜能谱(SDD)系统具有的稳定可变束流、高计数率等优点,在相同的实验条件下与冷场扫描... 本文采用薄片法原理,设计出已获专利授权的新型扫描电镜载样装置,并将其安装在扫描电镜中,对分散为薄层的混合纳米材料进行元素分布测试。应用热场电镜能谱(SDD)系统具有的稳定可变束流、高计数率等优点,在相同的实验条件下与冷场扫描电镜能谱(Si(Li))系统进行对比。实验结果说明:较传统方法,采用新方法提升了电镜能谱的空间分辨率,而且热场优于冷场的水平,元素分布的识别效果得到显著提高,热场电镜能谱的分析领域得到完善。该方法也为应用热场电镜能谱对纳米材料进行成分分析提供了新的思路。 展开更多

关键词 能谱空间分辨率 热场发射扫描电镜 薄片法 SDD硅漂移探测器

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精细X荧光光谱中伪峰剔除方法的研究 被引量：2

16

作者 周伟 刘泽威 +2 位作者 周航 梁菲惜 张蓉舟 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2018年第11期3593-3597,共5页

在高计数率背景下,采用数字慢三角成形处理算法的高性能硅漂移探测器X荧光光谱全能峰受到伪峰严重干扰。介绍了一种新型的剔除伪峰干扰的方法,详细阐述了该方法中数字三角形成形、信号甄别和伪峰判断等技术要点。以55Fe核素和岩石样品... 在高计数率背景下,采用数字慢三角成形处理算法的高性能硅漂移探测器X荧光光谱全能峰受到伪峰严重干扰。介绍了一种新型的剔除伪峰干扰的方法,详细阐述了该方法中数字三角形成形、信号甄别和伪峰判断等技术要点。以55Fe核素和岩石样品为实验对象,对比伪峰剔除前和剔除后得到的X荧光能谱,结果证明该方法能够较好地消除谱线图中的伪峰。因而,在精细X荧光能谱分析时,该方法能够提高能谱的峰背比和痕量元素的分析精确度。 展开更多

关键词 精细X荧光 硅漂移探测器 伪峰剔除 信号甄别

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基于SDD与DPP的X荧光分析及其在光伏硅杂质元素分析中的应用 被引量：6

17

作者 宁方敏 徐建元 +2 位作者 谭继廉 徐惠忠 田宇紘 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第12期1637-1640,共4页

采用硅漂移探测器(SDD)和DPP数字脉冲处理器(DPP)相结合,以及双靶X光管激发系统的X荧光分析方法,测定了光伏硅中杂质元素的含量,并采用不同含量的国家标准物质元素,对其最低检测限、精密度、准确度、稳定性等进行了实验,以检验所研制设... 采用硅漂移探测器(SDD)和DPP数字脉冲处理器(DPP)相结合,以及双靶X光管激发系统的X荧光分析方法,测定了光伏硅中杂质元素的含量,并采用不同含量的国家标准物质元素,对其最低检测限、精密度、准确度、稳定性等进行了实验,以检验所研制设备及所建立方法的可行性和实用性。研究结果表明,运用该设备及方法所测得的数据,可满足欧盟ARTIST计划和美国太阳能工业协会对光伏硅中杂质元素的限制要求。 展开更多

关键词 X荧光分析 SDD硅漂移探测器 DPP数字脉冲处理器 光伏硅 杂质 元素分析

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HL-2A装置SDD软X射线PHA阵列实验结果 被引量：2

18

作者 张轶泼 刘仪 +4 位作者 杨进蔚 宋先瑛 李旭 袁国梁 潘传红 《核聚变与等离子体物理》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期97-102,共6页

用软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列系统获得了等离子体的电子温度剖面和电子速率分布的时间演化。测量结果表明,电子温度剖面在OH阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1-(r/a)2]2分布;而在ECRH(功率0.8MW)阶段,等离子体中心(z=0)电子温度上升... 用软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列系统获得了等离子体的电子温度剖面和电子速率分布的时间演化。测量结果表明,电子温度剖面在OH阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1-(r/a)2]2分布;而在ECRH(功率0.8MW)阶段,等离子体中心(z=0)电子温度上升了0.6keV,边缘(z=30cm)处只上升了0.1keV,反映出ECRH功率沉积在等离子体中心区域;在ECRH期间有大量的高能电子产生,因而电子速率分布在ECRH期间显著改变;等离子体中心的高能电子的数量和能量都比等离子体边缘的增加更大,ECRH(～0.8MW)期间等离子体中心(z=0)产生的高能电子的能量可达17keV。分析表明:在ECRH(纵场Bt=1.3T)放电期间,ECRH加热效果显著,ECRH的功率主要沉积在等离子体中心附近;电子温度剖面在ECRH阶段较OH阶段峰化;ECRH期间有大量的高能电子产生,电子速率分布被改变成为非麦克斯韦分布。 展开更多

关键词 软X射线脉冲高度分析 硅漂移探测器 电子温度分布 电子速率分布 ECRH

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γ吸收法铀浓度测量装置设计 被引量：2

19

作者 吉永超 胡杰 +3 位作者 周建斌 洪旭 刘飞 方方 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2020年第5期817-821,共5页

设计加工了一套γ吸收法实验室铀浓度测量装置。该装置采用快速硅漂移探测器作为探头,^(241)Am作为放射源。通过配置浓度为10.25 g/L.50.25 g/L.90.23 g/L和124.30g/L的4组铀标准溶液,建立铀浓度工作曲线,并对系统的精密度、准确度和稳... 设计加工了一套γ吸收法实验室铀浓度测量装置。该装置采用快速硅漂移探测器作为探头,^(241)Am作为放射源。通过配置浓度为10.25 g/L.50.25 g/L.90.23 g/L和124.30g/L的4组铀标准溶液,建立铀浓度工作曲线,并对系统的精密度、准确度和稳定性进行了测试。实验测试表明:该装置可有效地避免铀溶液中裂片元素的γ射线和X射线对测量产生的影响;工作曲线的拟合线性度R^(2)=0.9996;对不同浓度铀溶液(10.25 g/L、90.23 g/L、252.796g/L)的精密度RSD分别为2.29%、0.49%.0.19%;相对误差为2.4%;连续测量10h,数据全部落在μ±3s内。 展开更多

关键词 铀浓度 快速硅漂移探测器 裂片元素

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基于自适应随机森林的数据流分类算法 被引量：9

20

作者 张馨予 安建成 曹锐 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2020年第3期543-549,共7页

自适应随机森林分类器在每个基础分类器上分别设置了警告探测器和漂移探测器,实例训练时常常会同时触发多个警告探测器,引起多棵背景树同步训练,使得运行所需的内存大、时间长。针对此问题,提出了一种改进的自适应随机森林集成分类算法... 自适应随机森林分类器在每个基础分类器上分别设置了警告探测器和漂移探测器,实例训练时常常会同时触发多个警告探测器,引起多棵背景树同步训练,使得运行所需的内存大、时间长。针对此问题,提出了一种改进的自适应随机森林集成分类算法,将概念漂移探测器设置在集成学习器端,移除各基础树端的漂移探测器,并根据集成器预测准确率确定需要训练的背景树的数量。用改进后的算法对较平衡的数据流进行分类,在保证分类性能的前提下,与改进前的算法相比,运行时间有所降低,消耗内存有所减少,能更快适应数据流中出现的概念漂移。 展开更多

关键词 数据流 概念漂移 随机森林 漂移探测器 集成分类器

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