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基于广义特征分析与边界扫描技术的混合信号测试系统: 1; 作者刘峰《电子技术应用》北大核心 2006年第3期83-86,共4页; 分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求,提出了一种基于微机的符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想,将传统的各种故障字典进行统一... 展开更多; 关键词混合电路测试边界扫描广义特征分析主控系统; 在线阅读下载PDF 职称材料

手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计被引量：8: 2; 作者李博魏廷存樊晓桠《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2006年第12期125-128,共4页; 文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采... 展开更多; 关键词测试电路 TFT—LCD驱动芯片混合信号电路测试; 在线阅读下载PDF 职称材料

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