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SOC基于LFSR的混合模式测试
1
作者
赵小康
王明湘
《电子质量》
2008年第12期34-35,39,共3页
随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展,系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BIST)成为人们研究的热点。文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了...
随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展,系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BIST)成为人们研究的热点。文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨。
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关键词
SOC
SOB
LFSR
混合模式测试
BIST
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职称材料
内建自测试相移器设计算法的优化
被引量：
1
2
作者
吴玺
刘军
刘正琼
《电子技术应用》
北大核心
2007年第6期31-33,共3页
在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。
关键词
伪随机
测试
混合模式测试
相移器
线性反馈移位寄存器
故障覆盖率
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职称材料
题名
SOC基于LFSR的混合模式测试
1
作者
赵小康
王明湘
机构
苏州大学电子信息学院
出处
《电子质量》
2008年第12期34-35,39,共3页
文摘
随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展,系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BIST)成为人们研究的热点。文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨。
关键词
SOC
SOB
LFSR
混合模式测试
BIST
Keywords
SOC
SOB
LFSR
mixed-mode testing
BIST
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
内建自测试相移器设计算法的优化
被引量：
1
2
作者
吴玺
刘军
刘正琼
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《电子技术应用》
北大核心
2007年第6期31-33,共3页
文摘
在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。
关键词
伪随机
测试
混合模式测试
相移器
线性反馈移位寄存器
故障覆盖率
分类号
TP273.4 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SOC基于LFSR的混合模式测试
赵小康
王明湘
《电子质量》
2008
0
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职称材料
2
内建自测试相移器设计算法的优化
吴玺
刘军
刘正琼
《电子技术应用》
北大核心
2007
1
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职称材料
已选择
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