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手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计
被引量：
8
1
作者
李博
魏廷存
樊晓桠
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2006年第12期125-128,共4页
文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采...
文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用边界扫描方式进行测试,提高了测试的灵活性,减少了测试电路的面积。电平敏化扫描链的引入,大大提高了SourceDriver测试的可控制性。该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试。
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关键词
测试
电路
TFT—LCD驱动芯片
混合信号电路测试
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职称材料
题名
手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计
被引量：
8
1
作者
李博
魏廷存
樊晓桠
机构
西北工业大学航空微电子中心
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2006年第12期125-128,共4页
基金
国家863计划项目(2005AA121193)
陕西省2004年科学技术研究发展计划项目(2004K05-G3)
文摘
文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用边界扫描方式进行测试,提高了测试的灵活性,减少了测试电路的面积。电平敏化扫描链的引入,大大提高了SourceDriver测试的可控制性。该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试。
关键词
测试
电路
TFT—LCD驱动芯片
混合信号电路测试
Keywords
Test circuit, TFT-LCD driver IC, Mixed-signal IC test
分类号
TP303 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计
李博
魏廷存
樊晓桠
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2006
8
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