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Ta_2O_5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响
被引量：
10
1
作者
陆胜
刘仲娥
+2 位作者
梁正书
刘凌
阴学清
《压电与声光》
CSCD
北大核心
2006年第4期475-477,480,共4页
叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程,分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜(SEM)分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构,并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明,介质膜内...
叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程,分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜(SEM)分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构,并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明,介质膜内杂质或缺陷处O2-放电产生的电子发射是电解液闪火和氧化膜击穿的前驱点;在高电场或高温度的作用下,介质膜的场致晶化和热致晶化是液体钽电解电容器失效的主要模式。
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关键词
Ta2O5介质膜
液体钽电解电容器
失效机理
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职称材料
题名
Ta_2O_5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响
被引量：
10
1
作者
陆胜
刘仲娥
梁正书
刘凌
阴学清
机构
天津大学电子信息工程学院
国营第
出处
《压电与声光》
CSCD
北大核心
2006年第4期475-477,480,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(60371028)
文摘
叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程,分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜(SEM)分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构,并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明,介质膜内杂质或缺陷处O2-放电产生的电子发射是电解液闪火和氧化膜击穿的前驱点;在高电场或高温度的作用下,介质膜的场致晶化和热致晶化是液体钽电解电容器失效的主要模式。
关键词
Ta2O5介质膜
液体钽电解电容器
失效机理
Keywords
Ta2O5 dielectric film
wet tantalum electrolytic capacitor
failure mechanism
分类号
TM535.1 [电气工程—电器]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Ta_2O_5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响
陆胜
刘仲娥
梁正书
刘凌
阴学清
《压电与声光》
CSCD
北大核心
2006
10
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