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浮栅ROM器件γ辐射效应实验研究 被引量:10
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作者 贺朝会 耿斌 +2 位作者 陈晓华 王燕萍 彭宏论 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期344-347,共4页
给出了浮栅 ROM器件的γ辐照效应实验结果。器件出现错误有个累积剂量阈值 ,当累积剂量小于某一值时 ,无数据错误。当累积剂量达到一定值时 ,开始出现数据错误。随着累积剂量的增加 ,错误数增加 ,动态监测和静态加电的器件都出现数据错... 给出了浮栅 ROM器件的γ辐照效应实验结果。器件出现错误有个累积剂量阈值 ,当累积剂量小于某一值时 ,无数据错误。当累积剂量达到一定值时 ,开始出现数据错误。随着累积剂量的增加 ,错误数增加 ,动态监测和静态加电的器件都出现数据错误 ,且不能用编程器重新写入数据。然而不加电的器件在更高的累积剂量辐照下未出现错误 ,而且可以用编程器重新写入数据。 展开更多
关键词 浮栅rom器件 γ辐射效应 实验研究 总剂量效应 钴60 γ源 只读存储器
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浮栅ROM器件γ射线、X射线和中子辐射效应实验研究 被引量:3
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作者 何宝平 张凤祁 姚志斌 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第4期489-492,共4页
本工作涉及浮栅ROM器件AT29C256的γ射线、X射线和反应堆快中子辐照实验测量。测量结果表明,浮栅ROM器件γ射线、X射线和快中子辐照效应是典型的总剂量效应。错误发生存在剂量阈值,开始出错时的错误数及错误地址不确定,错误数随辐照剂... 本工作涉及浮栅ROM器件AT29C256的γ射线、X射线和反应堆快中子辐照实验测量。测量结果表明,浮栅ROM器件γ射线、X射线和快中子辐照效应是典型的总剂量效应。错误发生存在剂量阈值,开始出错时的错误数及错误地址不确定,错误数随辐照剂量或注量的增大而增加。 展开更多
关键词 浮栅rom器件 Γ射线 X射线 中子 总剂量效应
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浮栅ROM器件的质子辐射效应实验研究 被引量:2
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作者 贺朝会 耿斌 +1 位作者 陈晓华 杨海亮 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第2期184-192,共9页
给出了浮栅ROM器件的质子辐射效应实验结果.认为浮栅ROM28C256和29C256的质子辐射效应不是单粒子效应,而是质子及其次级带电粒子产生的累积剂量造成的总剂量效应.器件出现错误有个质子注量阈值.对于29C256,高温加电退火容易消除质子产... 给出了浮栅ROM器件的质子辐射效应实验结果.认为浮栅ROM28C256和29C256的质子辐射效应不是单粒子效应,而是质子及其次级带电粒子产生的累积剂量造成的总剂量效应.器件出现错误有个质子注量阈值.对于29C256,高温加电退火容易消除质子产生的辐射损伤;对于28C256,高温加电退火不易消除质子产生的辐射损伤.动态监测和静态加电的器件都出现数据错误,且不能用编程器重新写入数据.然而不加电的器件在更高的质子注量辐照下未出现错误.对于应用浮栅ROM器件的航天器电子系统,冷备份是提高其可靠性的有效手段之一. 展开更多
关键词 单粒子效应 浮栅rom器件 质子辐射效应 实验研究 航天器电子系统
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