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用遗传算法优化测试通路结构设计
被引量：
1
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作者
王英翔
黄维康
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第3期348-354,共7页
嵌入核测试通路问题是片上系统设计中的重要问题 由于嵌入核与芯片的输入 /输出管脚没有直接通路 ,因此需要设计专门的测试通路结构对它们进行测试 ,以减少测试时间 ,降低测试成本 提出一种基于遗传算法的优化算法来设计测试通路结构 ...
嵌入核测试通路问题是片上系统设计中的重要问题 由于嵌入核与芯片的输入 /输出管脚没有直接通路 ,因此需要设计专门的测试通路结构对它们进行测试 ,以减少测试时间 ,降低测试成本 提出一种基于遗传算法的优化算法来设计测试通路结构 ,并选取了两个假定的、比较复杂的片上系统作为例子 实验结果表明 ,文中算法搜索到全局最优解 (或近似全局最优解 )
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关键词
片上系统
遗传算法
优化
测试通路结构
设计
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题名
用遗传算法优化测试通路结构设计
被引量：
1
1
作者
王英翔
黄维康
机构
复旦大学电子工程系CAT室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第3期348-354,共7页
基金
国家自然科学基金 ( 60 0 73 0 3 2
90 2 0 70 0 2 )资助
文摘
嵌入核测试通路问题是片上系统设计中的重要问题 由于嵌入核与芯片的输入 /输出管脚没有直接通路 ,因此需要设计专门的测试通路结构对它们进行测试 ,以减少测试时间 ,降低测试成本 提出一种基于遗传算法的优化算法来设计测试通路结构 ,并选取了两个假定的、比较复杂的片上系统作为例子 实验结果表明 ,文中算法搜索到全局最优解 (或近似全局最优解 )
关键词
片上系统
遗传算法
优化
测试通路结构
设计
Keywords
system on chip
embedded core
test access mechanism
genetic algorithm
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用遗传算法优化测试通路结构设计
王英翔
黄维康
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2004
1
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