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功能测试矢量的重排与测试时间的压缩
被引量：
2
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作者
范志翔
罗岚
陆生礼
《现代电子技术》
2006年第5期82-83,89,共3页
对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量...
对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量顺序的优化可以有效地减少重载次数而大大降低测试所需时间。应用模拟退火算法可以对测试矢量顺序进行全局的优化,得到该问题的近似最优解。
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关键词
测试
时间
ATE
测试矢量顺序
模拟退失算法
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职称材料
题名
功能测试矢量的重排与测试时间的压缩
被引量：
2
1
作者
范志翔
罗岚
陆生礼
机构
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
出处
《现代电子技术》
2006年第5期82-83,89,共3页
文摘
对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量顺序的优化可以有效地减少重载次数而大大降低测试所需时间。应用模拟退火算法可以对测试矢量顺序进行全局的优化,得到该问题的近似最优解。
关键词
测试
时间
ATE
测试矢量顺序
模拟退失算法
Keywords
test time
ATE
test vector reordering
simulated annealing algorithm
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
功能测试矢量的重排与测试时间的压缩
范志翔
罗岚
陆生礼
《现代电子技术》
2006
2
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