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含存储器数字电路板的TPS开发研究
1
作者
成本茂
鞠艳秋
+1 位作者
王红
杨士元
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第12期926-929,934,共5页
提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地...
提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地址空间的方法,对RAM阵列进行读写操作。实际应用证明,这两种方案较好地满足了实际应用中的需要。
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关键词
存储器
测试矢量集
结构
测试
功能
测试
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职称材料
题名
含存储器数字电路板的TPS开发研究
1
作者
成本茂
鞠艳秋
王红
杨士元
机构
清华大学自动化系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第12期926-929,934,共5页
基金
国家973计划资助项目(2005CB321604)
文摘
提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地址空间的方法,对RAM阵列进行读写操作。实际应用证明,这两种方案较好地满足了实际应用中的需要。
关键词
存储器
测试矢量集
结构
测试
功能
测试
Keywords
RAM
TPS （test pattern sets）
structural test
functional test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
含存储器数字电路板的TPS开发研究
成本茂
鞠艳秋
王红
杨士元
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006
0
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