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基于神经网络的组合电路测试生成算法
被引量:
13
1
作者
刘晓东
孙圣和
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第2期255-257,共3页
介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能...
介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能量函数 ,将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点 ,从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量 .在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间 .
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关键词
神经网络
组合电路
测试生成算法
遗传
算法
集成电路
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职称材料
基于极限学习机的模拟电路测试生成算法
2
作者
周靖宇
田书林
+1 位作者
王厚军
龙兵
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2015年第7期33-37,共5页
为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率,提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法.首先利用极限学习机对采集的脉冲响应空间样本进行分类,从而减少分类时间消耗,然后联立求解极限学习机表达式和模拟测试生成算法...
为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率,提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法.首先利用极限学习机对采集的脉冲响应空间样本进行分类,从而减少分类时间消耗,然后联立求解极限学习机表达式和模拟测试生成算法测试序列生成式,得到基于极限学习机的测试序列生成算法表达式,从而简化了测试结构.实验结果表明,基于极限学习机的模拟电路测试生成算法,在保证精度的前提下,可以较好地减少测试时间消耗,提高测试效率.
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关键词
模拟电路
测试生成算法
分类
算法
极限学习机
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职称材料
基于阈值的数字电路故障测试生成算法
3
作者
曲萍萍
《煤矿机械》
北大核心
2010年第10期249-251,共3页
针对数字电路中的可接受故障提出了一种有效的基于阈值的测试生成算法。该算法构建了数字电路的阈值测试生成模型,使用此模型能够有效地区分可接受故障和不可接受故障。应用成熟的固定故障测试生成算法生成不可接受故障的阈值测试矢量。...
针对数字电路中的可接受故障提出了一种有效的基于阈值的测试生成算法。该算法构建了数字电路的阈值测试生成模型,使用此模型能够有效地区分可接受故障和不可接受故障。应用成熟的固定故障测试生成算法生成不可接受故障的阈值测试矢量。在ISCAS’85国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。
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关键词
可接受故障
阈值
测试
测试生成算法
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职称材料
一种先进的时序电路测试生成算法
被引量:
2
4
作者
刘晓华
《电子质量》
2004年第9期6-8,共3页
本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析, 并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法。
关键词
路测
时序电路
测试生成算法
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职称材料
组合电路的故障测试生成D算法研究
被引量:
2
5
作者
陈永刚
张彩珍
《兰州铁道学院学报》
2002年第6期14-16,共3页
测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码,测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏.确定性测试中,测试算法的研究显得尤为重要.分析了组合电路的故障测试生成D算法,以施耐得计数器电路为例,研究了D算法在组合电路故障测...
测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码,测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏.确定性测试中,测试算法的研究显得尤为重要.分析了组合电路的故障测试生成D算法,以施耐得计数器电路为例,研究了D算法在组合电路故障测试生成中的应用,并给出了D算法与通路敏化法、布尔差分法的应用比较结果.
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关键词
组合电路
测试生成算法
D
算法
通路敏化法
布尔差分法
故障
测试
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职称材料
改进可满足性的测试向量生成算法
6
作者
曾成碧
陈光
《四川大学学报(工程科学版)》
EI
CAS
CSCD
2000年第3期54-57,共4页
描述了可满足性的测试向量生成 (SAT ATPG)算法 ,针对此算法的不足 ,提出反向路径敏化算法 (BPS)嵌入SAT ATPG中 ,减少了CNF的构成时间和搜索空间 ,而且减轻故障压缩的工作量 。
关键词
搜索
算法
可满足性
测试
向量
生成
算法
集成电路
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职称材料
加速可满足的测试向量生成算法
7
作者
曾成碧
陈光褕
《实用测试技术》
CAS
2000年第2期1-4,共4页
本文描述了可满足的测试向量生成 (ATPG)算法 ,对可满足的测试向量生成算法的不足 ,提出改进的全局蕴涵及唯一确定值的计算 ,来简化搜索空间、降低搜索量、加速测试生成。
关键词
搜索
算法
测试
向量
生成
算法
数字电路
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职称材料
基于神经网络的数字电路串扰时滞故障测试生成
8
作者
危厚琴
李艳娟
曹伟
《煤矿机械》
北大核心
2011年第3期263-264,共2页
针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法。该算法首先使用Kernighan-Lin-Fiduccia-Mattheyses(KLFM)方法在受害点处把电路分为左右2个部分,然后对右半部分电路采用神经网络算法把...
针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法。该算法首先使用Kernighan-Lin-Fiduccia-Mattheyses(KLFM)方法在受害点处把电路分为左右2个部分,然后对右半部分电路采用神经网络算法把故障效应传播到输出端,最后对左半部分电路根据受害点时滞故障的方程计算出受害点的最大串扰时滞故障测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89国际标准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试生成时间。
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关键词
神经网络
串扰时滞故障
测试生成算法
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职称材料
基于状态图的航天器测试用例设计
被引量:
6
9
作者
吕笑慰
王华茂
闫金栋
《航天器工程》
2014年第6期135-140,共6页
为进一步提高航天器测试效率和测试覆盖性,提出了一种基于状态图的航天器测试用例设计方法,以状态图模型作为测试用例设计的依据,通过模型覆盖准则,由算法生成测试用例,并以自主热控功能的测试为例,对新方法进行了可行性验证,给出了原...
为进一步提高航天器测试效率和测试覆盖性,提出了一种基于状态图的航天器测试用例设计方法,以状态图模型作为测试用例设计的依据,通过模型覆盖准则,由算法生成测试用例,并以自主热控功能的测试为例,对新方法进行了可行性验证,给出了原始用例和新用例的比较结果。该方法有利于准确衡量测试用例覆盖率,缩短用例设计时间,可为工程应用提供参考。
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关键词
航天器
测试
状态流
状态图模型
测试生成算法
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职称材料
超大规模集成电路测试技术
被引量:
6
10
作者
朱莉
林其伟
《中国测试技术》
2006年第6期117-120,共4页
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术...
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
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关键词
测试生成算法
自动
测试
矢量
生成
可测性设计
内建自
测试
存储器
测试
静态功耗电流
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职称材料
题名
基于神经网络的组合电路测试生成算法
被引量:
13
1
作者
刘晓东
孙圣和
机构
哈尔滨工业大学计算机与电气学院
出处
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第2期255-257,共3页
文摘
介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能量函数 ,将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点 ,从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量 .在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间 .
关键词
神经网络
组合电路
测试生成算法
遗传
算法
集成电路
Keywords
Genetic algorithms
Integrated circuit testing
Neural networks
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP183 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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职称材料
题名
基于极限学习机的模拟电路测试生成算法
2
作者
周靖宇
田书林
王厚军
龙兵
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2015年第7期33-37,共5页
基金
国家自然科学基金(60934002
61271035
+1 种基金
61201009
61071029)
文摘
为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率,提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法.首先利用极限学习机对采集的脉冲响应空间样本进行分类,从而减少分类时间消耗,然后联立求解极限学习机表达式和模拟测试生成算法测试序列生成式,得到基于极限学习机的测试序列生成算法表达式,从而简化了测试结构.实验结果表明,基于极限学习机的模拟电路测试生成算法,在保证精度的前提下,可以较好地减少测试时间消耗,提高测试效率.
关键词
模拟电路
测试生成算法
分类
算法
极限学习机
Keywords
analog circuits
test generation
classification
extreme learning machine
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于阈值的数字电路故障测试生成算法
3
作者
曲萍萍
机构
北华大学电气信息工程学院
出处
《煤矿机械》
北大核心
2010年第10期249-251,共3页
文摘
针对数字电路中的可接受故障提出了一种有效的基于阈值的测试生成算法。该算法构建了数字电路的阈值测试生成模型,使用此模型能够有效地区分可接受故障和不可接受故障。应用成熟的固定故障测试生成算法生成不可接受故障的阈值测试矢量。在ISCAS’85国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。
关键词
可接受故障
阈值
测试
测试生成算法
Keywords
acceptable faults
threshold test
test generation algorithm
分类号
TP39 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
在线阅读
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职称材料
题名
一种先进的时序电路测试生成算法
被引量:
2
4
作者
刘晓华
机构
广州邮电通信设备有限公司
出处
《电子质量》
2004年第9期6-8,共3页
文摘
本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析, 并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法。
关键词
路测
时序电路
测试生成算法
Keywords
Test generation
fault simulation
state justify
分类号
TN702 [电子电信—电路与系统]
在线阅读
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职称材料
题名
组合电路的故障测试生成D算法研究
被引量:
2
5
作者
陈永刚
张彩珍
机构
兰州铁道学院信息与电气工程学院
出处
《兰州铁道学院学报》
2002年第6期14-16,共3页
基金
甘肃省自然科学基金资助项目.ZS98-1-A22-030-G.
文摘
测试生成指针对电路中一个故障找出能检测该故障的测试码,测试生成算法的好坏决定着测试技术的好坏.确定性测试中,测试算法的研究显得尤为重要.分析了组合电路的故障测试生成D算法,以施耐得计数器电路为例,研究了D算法在组合电路故障测试生成中的应用,并给出了D算法与通路敏化法、布尔差分法的应用比较结果.
关键词
组合电路
测试生成算法
D
算法
通路敏化法
布尔差分法
故障
测试
Keywords
test generation
D-Algorithm
Route-Sensibilization-Method
Boolean-Difference-Method.
分类号
TM13 [电气工程—电工理论与新技术]
TN707 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
改进可满足性的测试向量生成算法
6
作者
曾成碧
陈光
机构
四川大学电力工程系
电子科技大学CAT室
出处
《四川大学学报(工程科学版)》
EI
CAS
CSCD
2000年第3期54-57,共4页
文摘
描述了可满足性的测试向量生成 (SAT ATPG)算法 ,针对此算法的不足 ,提出反向路径敏化算法 (BPS)嵌入SAT ATPG中 ,减少了CNF的构成时间和搜索空间 ,而且减轻故障压缩的工作量 。
关键词
搜索
算法
可满足性
测试
向量
生成
算法
集成电路
Keywords
search algorithm
automatic test pattern generation
digital circuits
backward path sensitization algorithm
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
加速可满足的测试向量生成算法
7
作者
曾成碧
陈光褕
机构
四川大学电气信息学院
电子科大CAT室
出处
《实用测试技术》
CAS
2000年第2期1-4,共4页
文摘
本文描述了可满足的测试向量生成 (ATPG)算法 ,对可满足的测试向量生成算法的不足 ,提出改进的全局蕴涵及唯一确定值的计算 ,来简化搜索空间、降低搜索量、加速测试生成。
关键词
搜索
算法
测试
向量
生成
算法
数字电路
分类号
TN79 [电子电信—电路与系统]
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于神经网络的数字电路串扰时滞故障测试生成
8
作者
危厚琴
李艳娟
曹伟
机构
北华大学电气信息工程学院
东北林业大学信息学院
哈尔滨理工大学测控技术与通讯工程学院
出处
《煤矿机械》
北大核心
2011年第3期263-264,共2页
文摘
针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法。该算法首先使用Kernighan-Lin-Fiduccia-Mattheyses(KLFM)方法在受害点处把电路分为左右2个部分,然后对右半部分电路采用神经网络算法把故障效应传播到输出端,最后对左半部分电路根据受害点时滞故障的方程计算出受害点的最大串扰时滞故障测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89国际标准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试生成时间。
关键词
神经网络
串扰时滞故障
测试生成算法
Keywords
neural networks
crosstalk delay fault
test generation algorithm
分类号
TN79 [电子电信—电路与系统]
TP306 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于状态图的航天器测试用例设计
被引量:
6
9
作者
吕笑慰
王华茂
闫金栋
机构
北京空间飞行器总体设计部
出处
《航天器工程》
2014年第6期135-140,共6页
基金
国家重大科技专项工程
文摘
为进一步提高航天器测试效率和测试覆盖性,提出了一种基于状态图的航天器测试用例设计方法,以状态图模型作为测试用例设计的依据,通过模型覆盖准则,由算法生成测试用例,并以自主热控功能的测试为例,对新方法进行了可行性验证,给出了原始用例和新用例的比较结果。该方法有利于准确衡量测试用例覆盖率,缩短用例设计时间,可为工程应用提供参考。
关键词
航天器
测试
状态流
状态图模型
测试生成算法
Keywords
spacecraft test
stateflow
statecharts model
test generation algorithms
分类号
V416 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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职称材料
题名
超大规模集成电路测试技术
被引量:
6
10
作者
朱莉
林其伟
机构
华侨大学信息学院物理电子学系
出处
《中国测试技术》
2006年第6期117-120,共4页
文摘
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
关键词
测试生成算法
自动
测试
矢量
生成
可测性设计
内建自
测试
存储器
测试
静态功耗电流
Keywords
Test algorithms
ATPG
DFF
BIST
Memory testing
IDDQ
分类号
TP29 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于神经网络的组合电路测试生成算法
刘晓东
孙圣和
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
13
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职称材料
2
基于极限学习机的模拟电路测试生成算法
周靖宇
田书林
王厚军
龙兵
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2015
0
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职称材料
3
基于阈值的数字电路故障测试生成算法
曲萍萍
《煤矿机械》
北大核心
2010
0
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职称材料
4
一种先进的时序电路测试生成算法
刘晓华
《电子质量》
2004
2
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职称材料
5
组合电路的故障测试生成D算法研究
陈永刚
张彩珍
《兰州铁道学院学报》
2002
2
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职称材料
6
改进可满足性的测试向量生成算法
曾成碧
陈光
《四川大学学报(工程科学版)》
EI
CAS
CSCD
2000
0
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职称材料
7
加速可满足的测试向量生成算法
曾成碧
陈光褕
《实用测试技术》
CAS
2000
0
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职称材料
8
基于神经网络的数字电路串扰时滞故障测试生成
危厚琴
李艳娟
曹伟
《煤矿机械》
北大核心
2011
0
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职称材料
9
基于状态图的航天器测试用例设计
吕笑慰
王华茂
闫金栋
《航天器工程》
2014
6
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职称材料
10
超大规模集成电路测试技术
朱莉
林其伟
《中国测试技术》
2006
6
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职称材料
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