期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
一种多扫描链混合测试数据压缩方法 被引量:1
1
作者 蔡烁 邝继顺 刘铁桥 《计算机工程》 CAS CSCD 2012年第18期245-247,共3页
针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法。对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成。对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储。将该方法与... 针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法。对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成。对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储。将该方法与另一种基于扫描阻塞的测试方法进行比较,理论分析和实验结果表明,该方法对数据的压缩效果优于单纯用伪随机方式的扫描阻塞测试方法。 展开更多
关键词 测试数据压缩 扫描阻塞 混合测试方法 测试片段 泊松分布
在线阅读 下载PDF
针对扫描阻塞结构的测试数据压缩方案
2
作者 蔡烁 杨致远 +1 位作者 刘铁桥 王伟征 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2012年第4期1378-1380,共3页
分析了集成电路测试面临的测试数据量大、测试应用时间长等问题,对常用的测试压缩方法进行了介绍,并在扫描阻塞测试结构基础上,提出了对数据进行部分编码压缩的方案。在附加硬件开销很小的情况下,进一步压缩了测试数据。理论分析和实验... 分析了集成电路测试面临的测试数据量大、测试应用时间长等问题,对常用的测试压缩方法进行了介绍,并在扫描阻塞测试结构基础上,提出了对数据进行部分编码压缩的方案。在附加硬件开销很小的情况下,进一步压缩了测试数据。理论分析和实验结果都表明了本压缩方案的可行性和有效性。 展开更多
关键词 扫描阻塞结构 确定位 测试片段 泊松分布 编码压缩
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部