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低成本的两级扫描测试结构 被引量:5
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作者 向东 李开伟 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2006年第5期786-791,共6页
提出了一种两级扫描测试结构:根据电路结构信息对时序单元进行分组,同组的时序单元在测试生成电路中共享同一个伪输入;将时序单元划分到不同的时钟域,在测试向量的置入过程中只有很小一部分时序单元发生逻辑值的翻转;引入新的异或网络结... 提出了一种两级扫描测试结构:根据电路结构信息对时序单元进行分组,同组的时序单元在测试生成电路中共享同一个伪输入;将时序单元划分到不同的时钟域,在测试向量的置入过程中只有很小一部分时序单元发生逻辑值的翻转;引入新的异或网络结构,消除了故障屏蔽效应.实验结果表明,该两级测试结构与以往的方法相比,在保证故障覆盖率的同时,大大降低了测试时间、测试功耗和测试数据量. 展开更多
关键词 测试性设计 扫描测试 测试时间 测试功耗 测试数据量
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一种基于改进RAS架构的SOC测试方法
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作者 欧阳一鸣 杨倩 梁华国 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第5期552-557,共6页
为了同时解决目前SOC测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间三方面的难题,提出一种基于random access scan架构的SOC测试方法.该方法通过改进扫描单元的结构,减少了硬件开销,同时利用列地址信号来控制测试过程,减少测试数据... 为了同时解决目前SOC测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时间三方面的难题,提出一种基于random access scan架构的SOC测试方法.该方法通过改进扫描单元的结构,减少了硬件开销,同时利用列地址信号来控制测试过程,减少测试数据量和测试时间.在ISCAS 89基准电路上进行的实验表明,该方法与传统的串行扫描技术相比,平均数据压缩率可以达到55%,测试速度提升2倍以上,同时,其测试的平均功耗几乎可以忽略不计. 展开更多
关键词 随机访问扫描 测试数据量 测试功耗 测试时间
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基于组合解压缩电路的多扫描链测试方法 被引量:1
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作者 董婕 胡瑜 +1 位作者 韩银和 李晓维 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2006年第6期1001-1007,共7页
提出一种采用组合电路实现解压缩电路的压缩方法,只需少量的输入管脚,可以驱动大量的内部扫描链·该方法利用确定性测试向量中存在的大量的不确定位(X位),采用对测试向量进行切片划分和兼容赋值的思想,通过分析扫描切片之间的兼容... 提出一种采用组合电路实现解压缩电路的压缩方法,只需少量的输入管脚,可以驱动大量的内部扫描链·该方法利用确定性测试向量中存在的大量的不确定位(X位),采用对测试向量进行切片划分和兼容赋值的思想,通过分析扫描切片之间的兼容关系来寻找所需的外部扫描输入管脚的最小个数·实验结果表明,它能有效地降低测试数据量·此外,通过应用所提出的解压缩电路,扫描链的条数不再受到自动测试仪的限制,因此能充分发挥多扫描链设计降低测试应用时间的优点· 展开更多
关键词 扫描设计 测试数据量 解压缩电路 组合电路 兼容
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相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法 被引量:1
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作者 肖剑锋 尤志强 邝继顺 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2008年第24期241-243,共3页
针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题,对其进行3个方面的改进:选取包含X的扫描单元,选取度更小的扫描单元生成异或类,异或类再进行异或生成新的异或类。实验结果表明,该改进算法是有效的。
关键词 全扫描测试 扫描树 测试应用时间 测试数据量
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